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超声引线键合点形态及界面金属学特征
26 5
2005 9 E lectronics Process Technology 249
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1 2 1
计红军, 李明雨 , 王春青
( 1. 哈尔滨工业大学现代焊接生产技术国家重点实验室, 龙江 哈尔滨 150001;
2. 哈尔滨工业大学深圳研究生院, 广东 深圳 518055)
: 采用超声键合的方法, 研究了键合点的形成原因, 通过 SEM 及 EDX 分析发现超声键
合过程中存在扩散现象对键合点进行了老化试验, 考察了键合点上 25 Lm 直径的质量分数为A l
+ 1% Si引线的组织演变情况, 在 170 e 下, 随着老化时间的延长, 键合点上引线内部形成了大量的
微裂纹和孔洞, 连接成线, 与超声振动方向平行, 分析了产生原因以及对键合点可靠性的影响
: 扩散; 超声键合; 可靠性
: TG40 : A : 1001- 3474( 2005) 05- 0249- 05
Study on the Configuration and the Interfacial
M etallurgic Characteristics ofUltrasonicW ire Bonds
1 2
JIHong- jun , LIM ing- yu , WANG Chun- ing1
( 1. Harbin Institute of Technology, Harbin 150001, China;
2. Harbin Institute ofTechnology Shenzhen Graduate School, Shenzhen 518055, China)
Abstract: A t room tem erature, the A l+ 1% Siw ire of 25 Lm d iameterw as bonded to the Au/N i/
Cu ad successfu lly by u ltrasonic bond ingmethod. W e investigated the interfacialm etallurgical character-
istics bewt een the w ire and ad by Scann ing Electron M icrosco y ( SEM) and Energy D is ersiveX - ray
S ectrom eter ( EDX). It is found that there is visible interd iffusion betw een elementA l in the w ire and
element N i in the ad. It is robably that both lastic flow under the ressure of thew edge and w ire so-f
tening by the u ltrason ic vibration enhance the diffusion. A fter aged at 170 e , there are many vacancies
and m icro- cracks in the bond w ire. The reason and their effects on reliab ility are concerned.
key words: D iffusion; U ltra
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