TD-LTE基站射频测试步骤详解.docVIP

TD-LTE基站射频测试操作说明 第一部分 TX测试 一、TX测试连接图 Note: 衰减为输出功率2.5倍以上，此处选择30dB。 10MH 参考线时钟线reference接BBU针孔　，10毫秒trigger接B板最右边网口。 二、仪表等附件内容 频谱分析仪(Agilent MXA Signal Analyzer N9020A,10Hz~13.6GHz), 30dB衰减，System DC Power 7Supply (Agilent N5747A/60V/12.5A/750W)，VGA信号源。 LTE NEM，Secure CRT。 三、NEM操作系统配置 四、频谱仪选键设置 Step 1. 选择LTE模式，Press Mode, LTE TDD. Step 2. 频点设置 FREQ Channel Step 3. 频点补偿设置 Input/Output, External Gain, BTS Step 4. 下行模式设置Mode Setup, Radio, Direction to be Downlink. Step 5. 链路配置设Mode Setup, Radio, ULDLAlloc, Config 3；DW/GP/Up Len, More, Config 8. Step 6. 时间门限设置 Sweep/control, Gat