分段平面Ge EGPS 系列.PDF

特性 分段平面Ge EGPS 系列 X γ Ge  在物理、天体物理、非破坏控制和 用于 和 射线测量的分段平面 医学中用于高性能X 和 测量 探测器  独特的专利划分技 ，已经开发和 改进15 年以上  广泛范围的形状 (像素、带形) 和 描述 划分 (直带、圆形、单或双面)  卓越的能量分辨率(在5.9 CANBERRA EGPS 系列探测器是使用 keV,150eV,具体依赖于几何形状 专利技术制造的，允许设计世界上 和计数率) 最佳的带形Ge探测器。  在高计数率下，有好的性能, 使用 小的探测器与大探测器一样好 CANBERRA 把照相平板技 （通常应 (高达1 Mcps) 用于微电子学）施用于Ge二极管。  精确的交互点定位 (1, 2 或 3D) 因而，有可能作所有类型的划分模  厚度最大可达20 mm 式（直带、曲线带、像素等），包  与物理脉冲的干扰最大1% 括双面薄窗划分。80 年代以来，这  使用CANBERRA薄窗专利技术，提 一可靠技术已经经受住了考验。 供双面划分的能力  提供液氮或电制冷器冷却。 划分提供许多好处： 应用  抑制邻接带之间的死区域 ∙ 回旋加速器(EXAFS, 衍射，医疗  最小的斜度：在单面带上，下 μ 束流线) 降到50 m ∙ 核物理（跟踪）  2-面照相平板功能，斜度最大200μm ∙ Compton 照相机 （映象）  高计数率下(最多可达每秒 1 M个脉冲) ∙ 非破坏控制  卓越的 FWHM 分辨率：在 5.9 keV 一般为150 eV ∙ 放射性照相  没有可测量到的物理干扰。 ∙ 医疗 (BNCT, 血管摄影 ) 分割技术适合于所有晶体设计：圆形、矩形等... 。二极管被使用照相平板技术分 割，允许比分割的同轴探测器更加精确地 3D 定位交互点，这是因为探测器内部的 电场特性。几个 EGPS 探测器可以在阵列中关联在阵列中，或者在一个低温恒温器 中堆积在一起，从而提供更小的死区域、增加覆盖的角度（或者高能射线的吸收， 具体依赖于系统的配置）。 几个类似的这种类型装置被用于Compton 照相机。EGPS 探测器是在液氮温度下冷 却的，能够承受许多次的热循环，而没有任何性能下降。这些特性使得EGPS 系列 成为许多应用中X 或 gamma 射线测量的最佳选择，如物理或天体物理以及非干扰 探测和医疗应用。 1 分段平面GeEGPS 系列 规格 直线Ge 阵列 像素的Ge探测器 ∙ 部件个数：最多1024个，单面或双面。 ∙典型阵列尺寸：最大 60mmx60mm 活动面积， ∙ 对单面，大于50μm 的 任何斜率。 根据请求可以提供更大的尺寸。 ∙ 活动带长度：与4in.晶片兼容的任何尺寸。