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基于犐状犣状犜犻犗氧化物半导体材料的薄膜晶体管-液晶与显示
第 卷 第 期 液 晶 与 显 示 ,
25 4 Vol.25No.4
年 月 ,
2010 8 ChineseJournalofLiuidCrstalsandDislas Au.2010
q y p y g
文章编号: ( )
10072780201004056903
基于 犐狀犣狀犜犻犗氧化物半导体材料的薄膜晶体管
,
12 2 1
姚绮君 ,李曙新 ,张 群
( 复旦大学 材料科学系,上海 , : ;
1. 200433Email 01 ahoo.com.cn
@
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2.天马微电子股份有限公司,深圳 518118)
摘 要:在室温下制备了基于 氧化物半导体的薄膜晶体管,氧化物沟道层中 、 、 的摩尔比
InZnTiO InZnTi
为 。所制备的器件场致迁移率达到 2/ · ,开关比大于 5,亚阈值摆幅 / 。和未
49∶49∶2 9.8cm V s 10 0.61V dec
掺 器件的比较表明,掺 能使器件阈值正向变化,对场致迁移率也有提高作用。
Ti Ti
关 键 词:薄膜晶体管;氧化锌;氧化铟;氧化钛
中图分类号:O753.2 文献标识码:A
犜犺犻狀犉犻犾犿犜狉犪狀狊犻狊狋狅狉狊犅犪狊犲犱狅狀犐狀犣狀犜犻犗犗狓犻犱犲犆犺犪狀狀犲犾犔犪犲狉
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