波长色散型与能量色散型X 射线荧光光谱仪之比较.PDF

WD-XRF 与ED-XRF 之比较 波长色散型与能量色散型 X 射线荧光光谱仪之比较 简介 X 射线荧光 （X-Ray Fluorescence ，XRF ）光谱仪利用原级X 射线 （一次X 射线）或其 他微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生X 射线荧光 （二次X 射线）从而进行物质成 分分析和化学态的研究。在成分分析方面，X 射线荧光光谱仪是现代常规分析中的一种重要 仪器。 X 射线荧光光谱仪能分析范围包括原子序数Z≥4 （铍）的所有元素，常规分析一般用于 Z≥9 （氟）的元素。分析灵敏度随仪器条件、分析对象和待测元素而异，新型仪器的检出限 一般可达10-5～10-6 克／克；在比较有利的条件下，对许多元素也可以测到10-7～10-9 克/ 克。至于常量元素的测定，X 射线荧光分析法的迅速和准确，是许多其他仪器分析方法难与 相比的。X 射线荧光分析具有谱线简单、不破坏样品、基体的吸收和增强效应较易克服、操 作简便、测定迅速等优点，已经广泛应用于地质、冶金、采矿、有色、海洋、生化、环境、 石化、商检、电子、公安、考古、难融化物和建材工业等领域。分析技术已从主、次量、微 量元素分析，扩展到痕量元素分析、元素成分微区分布分析等。随着新分析仪器的普及，X 射线荧光光谱仪已经成为各实验室的常规仪器。 X 射线荧光光谱仪的原理 1895 年，德国物理学家伦琴在研究阴极射线时发现了X 射线。X 射线是电磁波谱中的 某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位：千电子伏特，keV ）或波长（单位： nm ）描述。 X 射线荧光 X 射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组 成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，如果用足够能量的原级 X 射线 （一次X 射线）光子或其他微观粒子激发待测物质中的原子，内层电子（如K 层）就 会脱离原子的束缚，释放出来，电子的逐放会导致该电子壳层出现相应的电子空位。这时处 于高能量电子壳层的电子（如：L 层）会跃迁到该低能量电子壳层来填补相应的电子空位。 由于不同电子壳层之间存在着能量差距，这些能量上的差以二次X 射线的形式释放出来， 这二次X 射线就是X 射线荧光（XRF ）。不同的元素所释放出来的X 射线荧光具有特定的 能量特性。 X 射线荧光 （X-Ray Fluorescence ，XRF ）的产生过程 1 WD-XRF 与ED-XRF 之比较 莫塞莱提出了X 射线荧光波长与原子序数之间的关系定律，从而为根据X 射线荧光来 对试样进行定性和定量分析打下了理论基础。 X 射线荧光的波长 元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长 的X 射线，根据莫斯莱定律，荧光X 射线的波长λ 与元素的原子序数Z 有关，其数学关系 如下： λ=K(Z− S) −2 （1） 式中K 和S 是常数。 X 射线荧光的能量 而根据量子理论，X 射线可以看成由一种量子或光子组成的粒子流，每个光子具有的能 量为： E=hν=hC/λ=hC/K*(Z− S)2 （2 ） 式中，E 为X 射线光子的能量，单位为keV；h 为普朗克常数；ν 为光波的频率；C 为 光速。 从（1）和（2 ）可知，X 射线荧光的波长或能量是以受激物质（待测物质）元素的原子 序数为特征的，原子序数越大的元素波长越短或能量越高。各种不同的元素都有本身的特征 X 射线荧光波长或能量，因此，只要测出X 射线荧光的波长或能量，就可以知道元素的种 类，这就是用X 射线荧光原理的X 射线荧光光谱仪进行定性分析的依据；而元素受激发射 出来的特征X 射线荧光的强度则取决于该元素的含量，这是定量分析的依据。 X 射线荧光光谱仪的种类 X 射线荧光光谱仪主要由激发、色散（波长和能量色散）、探测、记录及数据处理等部 分组成