用于电子光学系统像差分析的自动微分技术及其在V isual C+ + 平台上.PDF

第 18 卷 第 6 期 电　子　显　微　学　报 V o l18,N o6 1999 年 12 月 Journa l of Ch inese Electron M icroscopy Soc iety 199912 ( ) 文章编号: 1999 0606440651 用于电子光学系统像差分析的自动微分技术 及其在V isual C + + 平台上的软件实现 王莉萍　程彬杰　唐天同　蔡　杰 (西安交通大学光电子与物理电子工程系, 西安 710049) 摘　要: 本文研究计算机数值计算与分析领域内的一个完全崭新的技术——自动微分技术。自动微 分技术为带电粒子光学中的任意高阶像差分析与校正提供了一个很有效的工具。我们研究了自动微 分功能利用面向对象的编程技术的实现, 并在 + + 环境中编制了一个软件包, 用于带电粒子光学系 V C 统中的粒子轨迹追踪及像差分析。用此软件模拟了电子在二维偏转电场中的轨迹, 其结果与解析解 完全一致, 可达到机器精度。 关键词: 自动微分; 带电粒子光学; 面向对象编程 分类号: O 463 1　　文献标识码: A 　　微分运算是目标优化、非线性系统求解、大规模数值模拟、灵敏度分析等热点课题中的关键 技术之一。在传统的计算方法中, 它只能通过数值微分来实现, 即用差商来代替导数, 这必然会带 来计算误差。而且当解决实际问题时, 这更是需要占用大量的 CPU 时间及内存量, 从而使得一 些大规模的问题在现有的硬件环境中根本得不到解决。科学界迫切需要一种新的准确而又快速 ( 的微分技术。正是在这样的紧迫需求与推动下, 一个新的数学分支“非标准分析” N on standard ) ( ) 以及“自动微分” 简记 技术逐渐建立和发展起来了。 A nalysis A u tom atic D ifferen tiation AD 1961 年 . 引入“无穷大量”和“无穷小量”, 建立了“非标准分析”的理论, 提出在实数的 A Rob in son [ 1 ] 延拓空间 R 中, 微分可定义为代数运算 。这一完全不同于传统的“标准分析”的思想引起的反 应是轰动性的。这种思想同计算机技术相结合就形成了崭新的“自动微分”技术, 即对任一光滑的 函数, 无论是否能解析表达, 在数值求解的同时可将其任意阶导数“自动”求出, 而没有截断误差 和舍入误差。自动微分技术一经出现就引起了极大的兴趣, L. B. R all 指出了这在计算机程序中 [ 2 ] ( ) [ 3 ] 实现的意义 。 . . 首次提出了自下而上模式“ ”向前模式 , 而 . R E W engert Bo ttom up M ode G ( ) [ 4 ]