x射线衍射分析非晶二氧化硅结构及其物化性质的研究 - 无机化学学报.pdf

维普资讯 第 10期 无 机 化 学 学 报 V01．18．No．10 2002年 l0月 CHINESE J0URNAL OFIN0RGANICCHEMISTRY 0Ct．．2002 X射线衍射分析非晶二氧化硅结构及其物化性质的研究 王 国光 水 森 岳林海 (浙江大学化学系，杭州 310027) 研究用不 同水玻璃浓度合成 的4个非 晶沉淀二氧化硅样品的物化性质、近红外、热重差热行为。并用 x射线衍射手段分析 了非 晶二氧化硅的结构参数，结果表 明样 品的短程有序范围在 5～6个原子距离。最近邻配位数与最近邻原子距离的变化与样 品的吸油值相一致，一定程度上反映了样 品结构 的紧密程度。 ， 关键词 二氧化硅 非晶结构参数 XRD 热重 ．差热 近红外 分类号 0613．72 二氧化硅 因其具有高纯度 、低密度 、高 比表面 以水玻璃 (C．P．，38wt％ 模数 3．O8，青 岛海洋化 积 、分散性好 、表面硅醇基与活性硅烷键能形成强弱 工厂)、硫酸 (A．R．，浙江临平化工试剂厂)为原料 ，采 不等 的氢键 、光学性能和机械性能优 良而广泛应用 用液相沉淀法制备二氧化硅 。在一定水玻璃浓度 的 于催化剂载体、高分子复合材料、电子封装材料、精 溶液 中，30～40~C搅拌 下，加人适 量 NaCI恒温 密陶瓷材料、橡胶 、造纸、塑料、玻璃钢、粘结剂、高档 25min后 ， 以 l5～2O滴 ／秒滴速加入 2O～3O％的 填料 、密封胶 、涂料 、光导纤维 、精密铸造等诸多行业 HSO 至反应体系 的pH值为 11左右 。这时升温至 的产 品中 ¨·。特别近年来 ，二氧化硅 在军事 、通 8O～9O℃，并在该温度下继续反应直至体系 pH值 讯 3【】、电子 、激光技术 、生物学 [41等领域有了越来越 为 8左右停止滴加 。在 90～100oC下熟化 3O 45 广泛 的应用 。 min，然后 陈化 、抽滤 、洗涤，于 120～150~C干燥 、过 非 晶态物质 的性能、形成条件 、稳定性和相变都 筛 、包装 。 涉及它的结构 。然而，研究非 晶物质结构 比较有效 在实验 中，设定水玻璃 的浓度分别为 17．8％， 的手 段 主 要 为 衍 射 法 和 扩 展 x 射 线 吸 收 谱 20．8％，23．9％和 26．7％，得到 4个不 同水玻璃浓 (EXAFS)法，它们能得到类似 的结构分析结果，但是 度 的系列样 品并简称为 a，b，c，和 d。 后者设备投入大，而且计算和分析过程复杂，还远不 1．2 物化参数的测定 能达到普遍应用的程度 。所 以 目前普遍使用 的还是 粒径用 COULTER公 司 LS230激光粒度分析 x射线 、中子衍射法 。用 x射线衍射法来求 SiO 的 仪测定 。 结构参数，虽已有文献有所涉及 5【．引，但较系统地分 吸油值测定：见文献 】。 析沉淀二氧化硅性质并与结构参数 的相关性进行讨 比表面积测定：采用碱液滴定法 8【】。 论 目前还较少见报道 。 1．3 分析仪器 文 中，我们研究了不 同水玻璃浓度合成 的系列 近红外分析采用 Bruker22／N分析仪，在配置 样 品的物化参数并进行分析，用 x射线衍射获得结 积分球 附件后测量样品的漫反射光谱。仪器分辨率 构参数探讨与二氧化硅一些物化性质 的