Xe离子注入后聚酰亚胺结构与电学性质的变化 - 河北师范大学学报.PDF

／ ／ 第 卷 第 期 ／ ／ ３７ ３ 河北师范大学学报 自然科学版 Ｖｏｌ．３７Ｎｏ．３ 　 年 月 ／ ／ ＪＯＵＲＮＡＬＯＦＨＥＢＥＩＮＯＲＭＡＬＵＮＩＶＥＲＳＩＴＹ ＮａｔｕｒａｌＳｃｉｅｎｃｅＥｄｉｔｉｏｎ 　 　 　 　 　 　 ２０１３ ５ Ｍａ ．２０１３ ｙ Ｘｅ离子注入后聚酰亚胺结构与电学性质的变化 ， ， 丁斌峰 李永平 韩丽君 　 　 （ ， ） 廊坊师范学院物理与电子信息学院 河北廊坊 ０６５０００ 　 ： 摘 要 用 离子注入聚酰亚胺改变其电学性能 采用高阻测试仪及霍耳效应测量仪测定了注入后样品的表 Ｘｅ ． ， ， 面电阻率随剂量以及温度的变化 用 方程对电阻率 温度曲线进行了拟合 最后用卢瑟福背散射等实验手段 Ｍｏｔｔ － ， ， · ／ ２ 对其结构变化进行了研究 结果表明 注入后样品的表面电阻率大幅降低 且在注入剂量为 时达到 ． ５０Ｐ ｉｏｎｓｃｍ 最小， 方程拟合结果表明样品的注入层是三维的导电层 Ｍｏｔｔ ． ： ； ； 关键词 高分子材料 离子注入 表面改性 中图分类号： 文献标志码： 文章编号： （ ） Ｏ４４８ Ａ １０００５８５４２０１３０３０２５８０６ 　 　　　 　　　 － － － ＳｔｒｕｃｔｕｒａｌａｎｄＥｌｅｃｔｒｉｃａｌＰｒｏｅｒｔｉｅｓＣｈａｎｅｓｏｆＰｏｌｉｍｉｄｅｂ ＸｅＩｏｎｓＩｍ ｌａｎｔｉｏｎ 　 　 　 ｐ 　 ｇ　 　 ｙ 　ｙ 　 　 ｐ 　 ＤＩＮＧ Ｂｉｎｆｅｎ ， ＬＩＹｏｎ ｉｎ ， ＨＡＮ Ｌｉｕｎ