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一 种能够精确检测 高于带隙基准电压的上电复位电路 常云峰，林平分 (北京工业大学嵌入式系统重点实验室) 摘要：本文描述了一种新型的上电复位电路。该电路的基本原理是基于Kuijk带隙基准电路，并在此基 础上新加入 2个电阻以使其能够检测高于带隙基准电压的电源电压。本文给出了其中一种检测电平为 1．64V的电路设计，其仿真结果显示：当温度从一40~C__E升到 125℃时，检测电平的变化小于2mv。 1 引言 2 传统的P0R电路 上 电复位 电路 (PowerO11reset，POR)用于检测 图 1为参考文献[3]所述的传统结构的POR电 电源电压是否足够高，并为芯片的数字部分产生复 路，其基本原理是：当电源电压等于带隙基准电压并 位信号 【。在某些应用中，复位信号同时也会对芯 且此时比较器正常工作 ，则POR输出信号发生翻 片的模拟部分进行复位。随着器件尺寸的不断缩小， 转。因为一般晶体管的阈值电压小于 1V，1．25V的 芯片的供电电压也不断减小，因此，芯片的供电电压 复位信号足够复位锁存器和存储器等数字电路。但 与系统可容忍的最小电源电压之间的差别越来越 是，很多芯片的模拟电路需要在较高的电源电压下 小，POR电路成为芯片工作中至关重要的模块。 开始工作，此时芯片必须要求高于带隙基准的检测 在参考文献[3]中描述了一种检测电平为带隙 电平 。 基准电压的POR电路，由于这种 电路基于Kuijk带 隙基准电路 ，具有结构简单、随工艺及温度偏差小 等优点，其缺点是可检测电平为固定的带隙基准电 压。由于检测电平的高低是由芯片其它部分的需求 来决定的，所以实际应用中需要能够灵活改变检测 电平的POR电路。 为了得到灵活可变的检测电平，本文对传统的 基于Kuijk带隙基准的POR电路进行了改进 ，新的 = POR电路可以精确检测高于带隙基准的电源电压。 图1基于Kuijk带隙基准的P0R电路嘲 http：／／www．cicmag．Corn VDDV村(1+ )时，有VyV，此时POR输出 3 新结构的P0R电路 n 1 为低电平。 将检测电平设为 1．64V，温度从一400(]到 125℃ 图2为本文提出的改进后的POR电路。因为二 变化时，POR输出翻转点的电源电压的仿真结果如 极管2端的压差和三极管发射极与基极之间的压差 图4所示，从图中可以看到检测电平随温度的变化 具有相同的负温度系数，且在主流的N阱CMOS工 小于2mV，能够满足一般芯片的需求。四 艺中提供PNP三极管，故可将原电路中的成比例的 2个二极管用成同比例的2个三极管代替，由[3]所 述电路可知，此时比较器输出将在V =VDD—Vb=V 时发生翻转，其中VDD为电源 电压 ，Vb为三极管的 基极电压，V耐为带隙基准电压 ，V。为电阻R1的压 降。忽略基极电流，则比较器的翻转点发生在 开 佃 D (3一 )