线列红外焦平面中几种相关采样法分析.pdfVIP

第 18 卷第 1 期 红 外 与 毫 米 波 学 报 V o l. 18, N o. 1 1999 年 2 月 J. In frared M illim. W ave s F eb ru ary, 1999 线列红外焦平面中几种相关采样法分析 房　骏　李言谨　陈新禹　方家熊 ( 中国科学院上海技术物理研究所, 传感技术国家重点实验室, 上海, 200083) 摘要　介绍了相关双采样法(CD S) 、四 采样、差分平均法等方法对像元复位噪声(KTC ) 的抑 制作用, 从理论上分析了这几种方法对输入噪声的影响. 将这几种方法用于线列红外焦平面, 并 对不同方法对噪声改善的程度进行了实验比较. 关键词　相关采样, KTC 噪声, 红外焦平面. 引言 红外焦平面将探测器与信号处理电路集成在一起, 工作模式与单元探测器有很大的不 同, 信号一般以“电荷包”的形式传递. 因此需要输出电路将电荷信号转换为电压或电流信 号. 在检测信号的过程中, 输出电路会引入所谓的像元复位噪声(K T C ). 在室温下, 折算为 噪声电子数 n = 400 C (C 的单元为p F ). 若 CCD 输出电容为 04p F , n = 253 个噪声电 子数, CCD 的总噪声一般约为 1000 个电子数, 可见 K T C 噪声已不容忽略. 开关M O S 电路 的主要噪声就是 K T C 噪声. 这是因为视频总线电容与列阵有关, 列阵越长, 总线电容愈大, 从而 K T C 噪声的影响更为严重. 为了降低CCD 的K T C 噪声, 1974 年W h ite 提出了用相关 双采样法[ 1 ] ( ) 来降低输出噪声. 这种方法的优点还在于可以对输入信号中的 1 噪声 CD S f 和白噪声起到抑制的作用. 在此基础上, 后来又发展了四 采样、差分平均法[2, 3 ] 等技术. 本 文先分析了这几种方法的原理和实现方法, 然后将这几种方法用于线列红外焦平面, 并对结 果进行了比较分析. 1　实验原理及方法 本文先详细介绍相关双采样(CD S) 方法, 其他方法具体分析过程与CD S 方法一致. 1. 1　CD S 对 KTC 噪声的抑制作用 图 1 和 2 是CD S 方法电路示意图和采样方式. CD S 具体实现方法是: 先对复位电平采 ( ) 样, 经时间 后对信号电平采样, 二者相减 这可通过片内或片外信号处理电路实现 即为 抵消部份 K T C 噪声的信号. ( ) 相关采样实施的理论基础是利用噪声的相关性, 白噪声 噪声不相关 通过一低通滤波 ( ) 器后将成为有色噪声 噪声相关 . 这是由于电容的存在, 上一时刻的电荷信息不能马上被放 电消除掉, 使得信号在时间上有一定的联系. 可以证明, K T C 噪声的相关系数为 - R C ( ) of f ( ) P R = e . 1 　　稿件收到日期 最后修改稿收到日期 © 1994-2010 China Academic Journal Electronic Publishing House. All rights reserved. 42