X射线荧光膜厚测试仪说明介绍America.pdfVIP

美国博曼镀层膜厚测试仪 说明书 简介 膜厚仪又名膜厚测试仪，分为手持式和台式二种，手持式又有磁感应镀层测厚仪，电涡流镀层测厚仪， 荧光 X 射线仪镀层测厚仪。手持式的磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通 的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。 原理 X 射线膜厚测试仪原理 X 射线的能量穿过金属镀层的同时，金属元素其电子会反射其稳定的能量波谱。通过这样的原理，我们设计出：膜厚测 试仪也可称为膜厚测量仪，又称金属涂镀层厚度测量仪，其不同之处为其即是薄膜厚度测试仪，也是薄膜表层金属元 素分析仪，因响应全球环保工艺准则，故目前市场上最普遍使用的都是无损薄膜 X 射线荧光镀层测厚仪。 有关此说明书 菜单技术已被广泛应用在 PCB 线路板行业，五金电镀行业，首饰行业等 此说明书将指导您如何一步步的正确操作博曼（BOWMAN ）镀层膜厚测试仪，根据这些步骤，您可以 在几分钟之后掌握其操作方法。 仪器基本操作 一．开机及关机步骤 1． 开机步骤 1）开启仪器电源； 2 ）开启打印机和计算机； 3 ）打开Analytics 软件，按“确定”完成开机步骤。 2 ．关机步骤 1）关闭Analytics 软件； 2 ）关闭仪器电源； 3 ）关闭计算机及打印机。 二．测量准备 1 ．测量基准 注意：这个步骤非常重要。 因为仪器是以元素 Ag 为基准进行测量的，所以必须精确定位元素 Ag 的位置，不能偏移。一般说来，一个星期做 一次“测量基准”就可以了。（也可以每天都做） （仪器是以Ag 为基准，如果 Ag 的光谱偏移了，则其它金属元素的光谱也跟着偏移） 测量基准步骤如下： 1）将元素 Ag 置于工作台上，调整其位置并聚焦清晰，使其清楚显示在视频窗口十字线中央。 2 ）选择菜单,按动“开始测量”按钮开始测量基准。 3 ）Ag 测完之后，使其显示在视频窗口十字线中央。在按 确定。 4 ）测量基准结束时，显示“基准测量完成，接受？”信息，按“确定”完成测量基准。 (如果显示“不需要做基准测量”信息，则按“确定”，再按“取消”退出即可。) 三．进行测量 1．完成开机步骤，并进行基准测量后，就可以开始测量样品了。 2 ．进行测量的步骤如下： 1）根据待测样品的镀层情况，点击菜单“产品程式—→选择．．．或 点击 ”选相应的产品程式。 2 ）将样品置于工作台上，调整其位置并聚焦清晰，使其清楚显示在视频窗口十字线中央。 3 ）按显示屏左下角的按钮“开始(s) ”或仪器控制台上的“START”键开始测量，倒计时结束后即完成一次测量。 3 ．测量注意事项 １）测量时间的选择。 测量时间越长稳定度越好。一般来说，单镀层不少于 15 秒，双镀层和合金比例测量时间不少于 30 秒，三镀层 测量时间不少于 45 秒，镀液主盐离子浓度测量时间在 30~60 秒之间。 ２）样品放置原则 必须正确放置样品（详细见仪器使用说明），保证 X 射线荧光不受干扰地到达探测器。 ３）如果测量结束后，出现“错误：不能测量”及“错误：光谱无效”信息，此时应进 行如下操作： A ：检查所测样品镀层情况是否与所选择的产品程式一致。 B ：进行基准测量。 C ：进行底材修正。 ４）测量之前应检查待测样品的底材成分与设定的底材是否一致。方法是直接测量底材， 如果测量结果偏离零点较大，则应进行底材修正。把底材放在工作台上，选择菜单“调校—→底材修正”，当出 现“元素：测量产品的底材物料”后，按“确定”进行底材修正即可。 四．打印报表 1．打印测量数据 1）选择菜单“结果计算⎯读数组报告”或点击 工具栏 上的图标进入单个数据组报表窗口。选择要打印的测 量数据组。（V3.16 版以后的软件和 V6 版软件） 2) 选择菜单“文件—→列印”进行打印。 如果要打印所有数据的统计结果，则选择菜单“结果计算—→最后报告”，选择菜单“文件—→列印”进行打印操作。 （V3.16 版以前的软件） 五．调校产品程式（要有调校标准片才能做） 正确的调校是保证仪器测量精度的必要条件。在调校之前必须充分预热仪器及进行基准测量。这点非常重要。 确定是否应进行调校，可通过测量调校标