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金属化薄膜电容器损耗角正切的测量与评价
第36卷第l期：0054—0056 电力电容器与无功补偿
2015年2月 P0wer Power Feb．2015
C印acitor＆Reacme
Compensation
DOI：10．14044，j．1674—1757．pc印c．2015．01．012
金属化薄膜电容器损耗角正切的测量与评价
陈才明
(宁波新容电器科技有限公司，浙江宁波315202)
摘 要：电容器的损耗是由介质损耗和金属损耗二部分组成，损耗角正切(ta∞)是金属化薄膜电容
器重要技术参数，如果通过测试能找出引起损耗超标的原因。将有利于产品质量的持续改进提高。
通过简化电容器的等效电路和采用不同频率的测量分析，可定性判定损耗角正切超标的原因，同时
指出测量金属化薄膜电容器损耗角正切(ta确)应着重于产品的一致性和试验后增量。对于追求“越
小越好”的观点需要改变。
关键词：金属化薄膜电容器；损耗角正切；介质损耗；金属损耗
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M昀舳rementandEValua戗Onontan6 Film
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Electrical
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(Ningbo Co．，Ltd．，Ningbo315202，Chi触)
Technologies
Abstract：Thelossof ismadeof asdielectric lossand
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c印acitor up parts t锄gent
ofloss technical ofmetal．izedfilm there鹊onofwhich
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