材料现代测试技术知识小结-2016.pptVIP

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  • 2017-08-14 发布于天津
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材料现代测试技术知识小结-2016.ppt

电镜的用途 微观形貌和结构 成分分析 光的衍射和光学显微镜分辨本领理论极限 光的衍射 结论: 埃利斑半径与照明光源波长成正。 光学显微镜分辨本领理论极限 分辨率的定义——设某成像装置所能区分开两点(或两条线)之间的最小距离为δ,则这一成像装置的最佳分辨率d 即为δ。 分辨率d 是衡量成像仪器的重要指标,也是各种因素的综合参数指征。 理论极限:照明光源的半波长。 电子透镜 静电透镜 磁透镜 电磁透镜的像差 (1)几何像差:由于透镜磁场几何缺陷引起 的,包括球差、像散和像畸变。 球差 产生机理; 影响; 像散 (2)色差 由于成像电子波长(或能量)变化引起电磁透镜焦距变化而产生的一种像差。 可以用消像散器适当地进行补偿。 像畸变 电子束与固体样品的相互作用 结论: 二次电子:SEM;表面形貌;图像分辨率好,能量低。 背散射电子:SEM;成分+形貌;图像分辨率低,能量分布广。 透射电子:TEM。 特征X射线:EDS,WDS;成分分析。 俄歇电子:电子能谱;表面成分分析。 电子显微镜的基础知识 电子显微镜的分类 透射电子显微镜(TEM) ——以电子束照射样品,利用透过样品的电子束穿越电磁场透镜,形成放大影像。 扫描电子显微镜(SEM)——以电子探针(极细的电子束)在样品上做不停的轰击扫描运动,将反射回来的“二次电子”收集成像。

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