CD的主要性能指标_1.pptVIP

* 噪声和信噪比 噪声的测量 以2048像元线阵列CCD为例说明 试验设备：积分球 被试设备：线阵CCD相机 * 噪声和信噪比 线阵列CCD噪声测量 亮场条件下测量，获取200行图像数据g(i,j)， i=1～2048，j=1～200，总噪声 为: 像元 i 200次平均值 像元 i 噪声 总噪声 * 噪声和信噪比 线阵列CCD固定图形噪声测量 暗场条件下测量，获取200行图像数据g(i,j)， i=1～2048，j=1～200，固定图形噪声 为 像元i暗电流平均值 暗电流总平均值 * 噪声和信噪比 线阵列CCD暗电流噪声测量 暗场条件下测量，获取200行图像数据g(i,j)， i=1～2048，j=1～200，暗电流噪声 为 * 噪声和信噪比线阵列CCD响应非均匀性测量 通过改变入射光强度从输出10%到80%饱和输出测量8组图像数据，每组500行。对每组数据计算信号输出平均值： 差的峰峰值或均方差表示响应度的非均匀性。 * 噪声和信噪比线阵列CCD响应非均匀性测量 * 噪声和信噪比线阵列CCD响应非均匀性测量 * 线阵列CCD响应线性度测量 通过改变入射光强度从输出10%到80%饱和输出测量8组图像数据，每组200行。同时纪录光亮度监视输出数据 ，对每组数据计算信号输出平均值（m=1～8)： 利用最小二乘法计算，计算线性拟和的残差。 * 响应线性度测量 * CCD性能指标测试标准 国内尚没有完整的测试标准, 准备推出一份通用规范。 欧洲欧空局(ESA)于1993年提出一个CCD测试规范： Electro-Optical Test Methods for Charge Coupled Devices ESA/SCC Basic Specification No. 2500 * CCD性能指标测试标准ESA/SCC No. 2500简介 整个规范分为六部分： 1 范围 2 引用文件（空） 3 术语、定义、缩略语、符号和单位 4 测试设备 5 电气测试方法（包含5项测试） 6 光电测试方法（包含29项测试） * CCD性能指标测试标准ESA/SCC No. 2500简介 第三部分中定义了CCD输出波形 CCD输出的行头 寄存器暗电流 (寄存器＋光敏元)暗电流 (寄存器＋光敏元)暗电流+光电信号 Vs:信号电压 输出 输出 CCD CDS * CCD性能指标测试标准ESA/SCC No. 2500简介 CCD输出的行尾 Vs:信号电压 寄存器暗电流 寄存器暗电流+行转移残留信号 CCD 输出 CDS 输出 * CCD性能指标测试标准ESA/SCC No. 2500简介 理想CCD输出 * CCD性能指标测试标准ESA/SCC No. 2500简介 第五和第六部分的测试方法中，每项测试包括的内容： 测试参数名称 1 该参数定义 2 测试原理 3 测试条件 下面介绍光电测试方法中的第4项(随机噪声)，17项(响应度)和19项(量子效率)。 * CCD性能指标测试标准ESA/SCC No. 2500简介 6.4 随机噪声(Temporal Noise) 6.4.1 定义 CCD输出中的随机噪声有以下来源： (1) CCD输出放大器噪声 (2)复位噪声 (3)霰粒噪声（包括光电信号和暗电流） (4) CCD片外电路噪声以及时钟和偏置引线干 扰引入的噪声 假定噪声(4) 在总噪声中占的比例很小，总噪声是其它3项的均方根值。 * CCD性能指标测试标准ESA/SCC No. 2500简介 6.4.2 测试原理 (1) 器件处于正常工作状态，详细记录CCD负载以及测试放大器增益等数据； * CCD性能指标测试标准ESA/SCC No. 2500简介 6.4.2 测试原理 (2) 获取一个像元的N次连续测量数据Xi，噪声?m为： 其中G为片外增益，N至少应该为1000。如有必要，可以对一组具有相同噪声的像元进行测量平均 测量像元是哑像元，如使用有效像元，应考虑暗电流影响。 * CCD性能指标测试标准ESA/SCC No. 2500简介 6.4.2 测试原理 (3) 当相邻(一行或一列)像元的噪声不相关时，可以采用如下方法测量?m： 连续对同一列或同一行进行两次测量，获数据L1和L1’。 L1 ：x1、x2 … xN; L1’ ： x1’、x2’ … xN’ 去除响应非均匀性影响后，可以用下式计算?m。 * CCD性能指标测试标准ESA/SCC N