工业X射线透视成像中的散射及其校正.pdfVIP

第 卷第 期 兵 工 学 报 2 5 2 Vo1. 25 No. 2 年 月 2 0 0 4 3 ACTA ARMAMENTARII March 2004 !!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!! 工业 射线透视成像中的散射及其校正 X 陈树越 路宏年 （华北工学院，山西太原， ） （北京航空航天大学） 030051 摘要 本文以实验为基础研究了工业 射线散射对无损检测成像质量的影响、散射规律及其校正 X 方法。通过研究散射系统的设计，用实验得出了射线散射随试件厚度的变化关系，修正了以往人们常用 的散射模型，提出了指数幂散射模型，利用该模型对X 射线散射用维纳滤波法进行了校正。实例表明， 本法可以有效地抑制散射对成像质量的影响，使透视图像的空间分辨率与校正前相比提高了56 % ，取 得了较好的校正效果。 关键词 光学；射线检测；无损检测；散射；射线数字成像 中图分类号 Tg115 . 28 + 1 在工业无损检测中射线散射是降低成像质量的 器可以有效地消除散射的影响。一般采用后准直或 重要因素之一，射线散射的结果降低了透视图像的 前后同时准直可获得较好的效果，准直的长宽比应 ［］ 1 对比度，使图像细节变得模糊不清 ，这对小缺陷 大于8 i 1 . 为研究准直的作用，对钢质分辨率板作了 的检测是非常不利的。因此，消除射线散射对提高 实验。分辨率板置于10mm 厚均匀钢板上，钢板至 透视图像的质量具有十分重要的意义。 转换屏的距离 105mm ，前准直比30 i 1，后准直比 在消除医学射线照相的射线散射上，人们通常 18 i 1，射线源管电压280kV ，科学级CCD 相机在准 采用滤线栅对散射进行屏蔽。在工业射线照相中， 直条件下曝光时间 ， （ ）晶体成像屏，非准 50s CsI T1 还没有令人满意的消除散射的措施。对线扫描探测 直条件下曝光时间 ，分辨率板的空间分辨率分 20s 器可以用准直抑制散射，对面成像探测器使用准直 别为 ， ， ， ， ， ， ／ 图 1 .0 1 .25 1 .6 2 .0 2 .5 3 .2 4 .0 1 mm . p 则会减小成像面积。因此，通过研究散射模型，确定 1 . 1 为非准直情况下，分辨率板图像某一行和多行 透视图像的散射退化函数，从而利用图像恢复理论 平均的灰度曲线。图1 .2 为准直情况下，分辨率板 消除散射是一条有效的途径。文献［，］将散射的 图像相同行和多行平均的灰度曲线。从图中可得出 2 3 线扩展函数（ ）表示为指数型，文献［］曾用蒙特 以下结论