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统计过程控制参考手册 培训考核试题答案 部门 姓名 得分 说明下述名词的区别（4×10分） 纠正措施和预防措施 纠正措施：指针对已经发生不合格的原因所采取的措施； 预防措施：指针对潜在不合格的原因所采取的措施； 普通原因和特殊原因 普通原因：指的是造成随着时间推移具有稳定的且可重复的分布过程中的许多变差的原因； 特殊原因：指的是造成不是始终作用于过程的变差的原因，即当它们出现时将造成(整个)过程的分布改变 控制界限和公差界限 规格界限：是用以说明质量特性的最大许可值，来保证各个单位产品的正确性能。 控制界限：应用于一群单位产品集体的量度，这种量度是从一群中各个单位产品所得观测值中计算出来者。 PPK和CPK CPK：过程能力指数，它只考虑了组内变差（固定变差），未考虑组间变差； PPK：过程性能指数，它考虑了组内变差（固定变差）和组间变差； 试计算数据组8,2,5,3,9,7的样本平均数、中位数、全距(极差)、标准差。（10分） x(bar)=(8+2+5+39+7)/5=5.667 x(中位数)=（5+7）/2=6 R=9-2=7 σ = 2.8 说明应用X-R控制图的基本步骤（10分） 某工厂制造一种新的产品，为控制其某一长度尺寸(mm)，在试生产过程中每隔0.5小时抽一组样本，每组样本数为4，共计抽样25组样本为： 样品 X1 X2 X3 X4 X-bar R s 1 68 60 61 63 63 8 3.56 2 58 56 65 53 58 12 5.10 3 59 58 47 52 54 12 5.60 4 62 59 59 64 61 5 2.45 5 51 50 55 56 53 6 3.46 6 58 53 51 50 53 8 3.56 7 62 52 56 58 57 10 4.16 8 60 54 61 65 60 11 4.55 9 56 57 62 61 59 6 2.94 10 61 53 56 54 56 8 3.56 11 74 73 63 66 69 11 5.35 12 64 55 54 59 58 10 4.55 13 54 56 59 51 55 8 3.37 14 53 51 47 57 52 10 4.16 15 57 60 57 54 57 6 2.45 16 56 59 57 56 57 3 1.41 17 57 60 53 58 57 7 2.94 18 54 52 52 52 52.5 2 1 19 60 59 59 52 57.5 8 3.76 20 55 55 52 59 55.25 7 4.23 21 60 63 56 57 59 7 3.16 22 56 58 63 55 58 8 3.56 23 87 82 86 77 83 10 4.55 24 66 70 67 69 68 4 1.83 25 76 46 62 56 60 30 35.59 请计算平均值-极差控制图，平均值-标准差控制图的控制界限并绘制平均值-极差控制图，并判定其是否处于受控状态。（20分） 平均值—极差控制图 平均值—标准差控制图 平均值控制界限 R控制界限 平均值控制界限 标准差管制图 UCL = UCL = UCL=X+A σ= UCL =B s= LCL=X- A R= LCL = LCL=X -A σ= LCL =B s= 下列资料为每天抽查机件MER-006，500件中的不良数为12,15,19,13,9,26,18,14,17,18,16,24,11,31,16,10,16,17,20,15,8,13,12,17,18试计算不合格率控制图和不合格数控制图的控制界限，并建立不合格率控制图(P-chart)。（10分） 见附件《SPC答案1》 铁片经热处理后其硬度规格为57±2HRC，今有一批铁片经抽样得其硬度的X±3σ=57.4±2.4，试计算制程准确度Ca，精密度Cp以及制程能力指数Cpk，并估计过程平均不合格率。（10分） Ca=(57.4-57)/2=0.2 Cp=(59-55)/4.8=0.83 Cpu=(59-57.4)/2.4=0.667 Cpl=(57.4-55)/2.4=1