第八章 衍射线指标化与点阵型式和晶胞参数测定.pptVIP

第八章 衍射线的指标化及点阵型式和晶胞参数的测定;8.1 产生衍射晶面的判断;8.2 衍射线的指标化;（2）未知结构 需按一般的指标化方法进行，将各晶系面间距公式分别代入简化Bragg方程，可得;8.2.1 立方晶系衍射线的指标化 对立方晶系，特征比例数列（附录8）为：;8.2.2 立方晶系晶胞参数的计算及精确测定 选高角区衍射线，按下式计算晶胞参数：;例2 ?-Al2O3衍射线指标化及格子类型确定;例 3 Si粉衍射线指标化及格子类型和晶胞参数确定;★ 晶胞参数的精确确定;谗迷聘艾层罗踩挥琅衷疏刊郁痞抒魔乘吝婚毡侮励渡骡娥蛔豆都目蔬所铝第八章 衍射线指标化与点阵型式和晶胞参数测定第八章 衍射线指标化与点阵型式和晶胞参数测定;8.2.3 四方、六方晶系衍射花样的指标化——图解法 粉末衍射花样的指标化是多晶X射线粉末衍射数据处理的重要环节，指标化的正确与否直接影响着对多晶试样晶系及点阵参数等结构数据的测定。所谓指标化就是，首先对衍射花样进行观察分析，如有可能则尽可能判断出未知物相所属晶系。然后对衍射花样中各衍射线条指标化，获得各线条所对应的衍射指标hkl。最后根据指标化的结果，总结消光规律，从而得出该衍射花样所对应的结构类型或空间群。然而晶系不同采用的指标化方法不同，以下主要对四方、六方衍射花样的指标化方法——图解法，作一个概括说明。;晶系的sin2?规律 1.1 晶系的通用公式;1.2 六方晶系的sin2θ规律 在六方晶系中有a=b≠c，α=β=90ο γ=120ο 则有：;1.3 四方晶系的sin2θ规律 在四方晶系中有a=b≠c , α=β= γ=90ο 那么同理可得： ;2. 多晶粉末衍射花样所属晶系的确定 在用人工方法进行指标化工作时，确定所属晶系是十分重要的。如果是按通用的指标化程序用计算机进行指标化，则不必确定物相所属的晶系，而只需按所编制程序的要求输入实验数据，让计算机从高级晶系到低级晶系逐个进行计算，最后输出结果，但这需用较大型的计算机，并耗费较多的计算机工作时间。如果能确定物相所属晶系，并已建立有关晶系的指标化计算机程序，则可在指定的晶系中进行指标化，那就可达到多快好省的目的。;最常用的几种指标化程序;确定未知衍射花样所属晶系的方法有以下几种： 2.1 经验法 利用某些结构类型的物相衍射线条出现的规律也能确定衍射花样所属的晶系和结构类型。这种方法要求我们平时注意收集和整理有关研究对象的衍射线条出现顺序及消光规律，掌握的规律越好，经验越丰富，则结果的可靠性越高。对于熟练的X射线工作者有可能据此判断立方、六方及四方晶系。 2.2 sin2θ比值法 对于立方晶系，问题比较简单，这里我们主要研究四方和六方。 对四方晶系有： sin2θhkl=A(h2+k2)+ Cl2 对于hkl为100、110、200、210、220、……， sin2θ分别为A、2A、4A、5A、8A……。可见，如果物相不属于立方晶系，而低角度衍射线条的sin2θ之比值常出现2的倍数，则这种物相属于四方晶系。 对六方晶系有： sin2θhkl=A(h2+hk+k2)+Cl2 对于hkl为100、110、200、210、300、220、……， sin2θ分别为A、3A、4A、7A、9A、12A，……。这里常见的sin2θ比值是3的倍数，这可作为判断是否属六方晶系的依据。 ; 上述原理可以通过作图来求解，其具体办法是：取一张纸条，按一定比例尺将X射线衍射花样上低角度区各线之sin2θ值及零点标上，然后在一张纸上作一组平行于横坐标、等间距的平行线，并标上0、1、2、……序号，第0条与横坐标重合，平行线间距应小于花样中第一条衍射线的sin2θ值。这时，我们将小纸条上的零点与第0条平行线相交并倾斜小纸条，见图[1]依次使小纸条上第1、2、3个标记与第一条平行线相交，如果在某种情况出现第1、2、4、5、8，……条平行线处有标记同时相交，那么该花样属简单四方结构；如果仅出现第1、2、4条平行线处有标记相交，则花样属体心四方结构；如出现第1、3、4、7……条平行线处有标记与之同时相交，则该花样属六方晶系；如果直至第3个标记与第一条平行线相交而未出现上述规律，则该物相不属四方或六方晶系。用这种方法时，最低角度的线条不能漏掉。 ;2.3 变温法 变温法就是用同一辐射在室温和高于250℃的某温度下（注意：在该温度范围内不发生相变）获得两个衍射花样，观察两衍射花样相应线条的位移△θ，计算ctgθ· △θ。 如果全部衍射线条的ctg