NEC ^14C测量AMS系统离子源升级.pdfVIP

第42卷增刊 原 子 能 科 学 技 术 Vo1．42，Supp1． 2008年9月 AtomicEnergyScienceandTechnology Sep．2008 NEC ¨C测量AMS系统离子源升级 丁杏芳，付东坡，蒋正元，路祥臣，刘克新 (北京大学 重离子物理研究所和核物理与核技术 国家重点实验室，北京 100871) 摘要 ：为提高样 品测量效率 ，对 MC-SNICS多靶位铯溅射负离子源进行了升级改进 。改进后 的离子源采 用球面电离器代替原有的锥面 电离器 ，对供铯系统也进行 了比较彻底 的改造 ，通过参数优化 ，”C一引出 流强最大可达近 150 A，比原有离子源提高了1倍 以上。流强的提高增加了加速器的束载效应，导致 纹波变大，对测量稳定性造成一定影响。通过增加主分析磁铁后 的光 阑孑L径和优化束流传输 ，可使 AMS保持高的测量精度 ，同时对测量本底未产生大的影响。 关键词 ：加速器质谱 ；离子源 ；球面 电离器 ；引出流强 中图分类号：TL52；TL56 文献标志码 ：A 文章编号：1000—6931(2008)S0-0233-05 UpgradingofIonSourceforNEC CompactAM S DING Xing—fang，FU Dong—po，JIANG Zheng—yuan，LU Xiang—chen，LIU Ke—xin (InstituteofHeavyIonPhysics StateKeyLaboratoryofNuclearPhysicsandTechnology． PekingUniversity，Beijing100871，China) Abstract：TheMC—SNICSion sourceofNECcompactAM Ssystem attheAMSlabora— toryofPekingUniversity wasupgraded recently．Sphericalionizerand improvedCs reservoirwereequippedwiththisupgradedionsource． C—beam currentupto150 a／A can beobtained with carefuloptimization of operating parameters． Increased beam currentcausesbiggerrippleofhighvoltageoftandem．Toenlargethediameterofthe aperturedownstream theanalyzingmagnetfrom 10mm to12mm ishelpfultokeepthe stabilityofthemeasurement．Experimentresultsshow thatbackgrounddonotincrease obviouslywithlargeraperture． Keywords：AMS；ionsource；sphericalionizer；beam current 加速器质谱 (AMS)是在地球科 学、考 古 2004年从美 国引进了小型化 ¨C样品测量加速 学、生命科学、环境科学等领域具有广泛应用的 器质谱仪 (PCAMS)，该系统 的加速器 为 一 项现代核分析技术 。由于 AMS直接计数放 1．5SDH 型 串列 静 电加 速 器 ，端 电压 仅 射性核素原子 ，因此 ，具有所需样品量小、测量 0．6MV，系统测量精度为 0．3 ，测量本底低 灵敏度高和测量效率高等优势 。北京大学于 于4×10 。自2004年运行 以来 ，每年平均测 收稿 日期 ：2008—07—11；修回 日期 ：2008—07—21 基金项 目：国家科技支撑计划资助项 目 作者简介 ：丁杏芳(197