石墨晶体预衍射x射线荧光法同时测定工艺样品中的低浓铀和低浓钚 simultaneous determination of low concentration uranium and plutonium in reprocessing samples by hopg pre-diffraction edxrf.pdfVIP

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石墨晶体预衍射x射线荧光法同时测定工艺样品中的低浓铀和低浓钚 simultaneous determination of low concentration uranium and plutonium in reprocessing samples by hopg pre-diffraction edxrf

第34卷第5期 核化学与 放射化学 V01.34No.5 of Nuclearand Oct.2012 2012年10月 Journal Radiochemistry 文章编号:0253—9950(2012)05—0275-06 石墨晶体预衍射X射线荧光法同时 测定工艺样品中的低浓铀和低浓钚 吉永超,牟 凌,马精德,姜国杜 中核集团四。四有限公司第三分公司,甘肃兰州 732850 摘要:利用石墨晶体预衍射x射线荧光法同时测定后处理工艺料液中的低浓铀和钚,建立了测定工艺料液中 校正曲线,铀和钚的质量浓度均在2.oo~1000.00mg/L时线性相关系数(,)均大于0.9990。测定结果表明 u和Pu的精密度(B)均优于5%,U的相对误差小于3.0%,Pu的相对误差小于4.0%。 关键词:石墨晶体预衍射X射线荧光法;U;Pu 中图分类号:0614.352文献标志码:A ofLow Uraniumand SimultaneousDeterminationConcentration in HOPGPre-DiffractionEDXRF ReprocessingSamplesby Guo—du JI Jing—de,JIANG Yong—chao,MULing,MA National TheThirdFilial of404 Limitted,ChinaNuclear 732850,China CompanyCompany Corporation,Lanzhou forlOWconcentrationuraniumand wasdevel— method Abstract:Ananalytical plutonium thismethoduraniumand fromnuclearruel oped.In plutoniumsampled reprocessing solutionswere determinedoriented byhighly pyrolytic simultaneously diffraction matrixinfluencewascorrected EDXRF.The byplotting theircalibrationcurves of工(U)一m(U)andl(Pu)一m(Pu)as I(Pu)/i。(Ag)一ID(Pu)instead ofa linefroma silver of where the scattered correla— I(Ag)wasintensi

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