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SoC的可测试性设计技术.pdf
第 30 卷第 10 期 同 济 大 学 学 报 Vol . 30 No . 10
2002 年 10 月 J OU RNAL OF TON GJ I UN IV ER SIT Y Oct . 2002
SoC 的可测试性设计技术
王永生 , 肖立伊 ,毛志刚 ,叶以正
( 哈尔滨工业大学 微电子中心 ,黑龙江 哈尔滨 15000 1)
( ) ( )
摘要 :基于可复用的嵌入式 IP intellectual prop erty 模块的系统级芯片 SoC 设计方法使测试面临新的挑战 ,需要
研究开发新的测试方法和策略. 结合系统级芯片的可测试性设计技术所面临的技术难点 ,详细介绍了当前系统
级芯片的可测试性设计技术 ,分析了各种系统级芯片的可测试性设计技术的特点及其优缺点 ,着重讨论了国际
( )
工业界内针对系统级芯片测试的方案 : IEEE P1500 和虚拟插座接口联盟 V SIA 测试访问结构.
关键词 : 系统级芯片 ; 可测试性设计 ; 测试访问结构
( )
中图分类号 : TP 206 文献标识码 : A 文章编号 : 0253 - 374X 2002 10 - 127 1 - 06
De sign for Te st ability for Sy st em - on - Chip
WA N G Yong - s heng , X IA O L i - y i , M A O Zhi - g ang , Y E Yi - z heng
(Microelectronics Center ,Harbin Institute of Technolo gy ,Harbin 15000 1 ,China)
( ) ( )
Ab stract : The system - on - chip SoC based on reusable embedded IP intellect ual p ropert y po ses new chal
lenges for test ,and t he new test met hodology and st rategy for SoC are needed . Several main current design -
for - test abilit y (D F T) techniques for SoC are described along wit h t heir feat ures ,advant ages and disadvan
t ages. The IEEE P 1500 and V SIA (virt ual socket interface alliance) test access architect ure schem
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