超声波探伤仪时基线与灵敏度的调整_续_.pdfVIP

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2017-07-27 发布于北京
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超声波探伤仪时基线与灵敏度的调整_续_.pdf

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无损检测标准化 EN 583 - 2 :2001 超声波探伤仪时基线和灵敏度的调整( 续) Nondestructive Testing 　　Ultrasonic Examination Part 2 : Sensitivity and Range Setting( Continuation) 　　中图分类号 : T G115 . 28 　　　文献标识码 :C 　　　文章编号 (2005) 09049 107 6 . 4 　距离增益大小法 6 . 4 . 1 　概述 ( ) 距离增益大小 D GS 法是利用理论上推导出的圆盘形反射体的 DA C 曲线 ,来评价未知反射体回波高度的。在通用 D GS 图中 ,距离和反射体尺寸要标准 ( ) 化。因而 ,此图与探头压电元件尺寸和频率无关。它将距离表示为探头近声场长度 N eff 的倍数 ,而将反射体尺寸表示为探头压电元件直径 Deff 的倍数 ( 图 10 和附录 D) 。图 11 　斜探头专用 D GS 图用 D GS 法调整探伤灵敏度或记录回波高度时 , 应使用附录 B 规定的参考试块。目的是将 D GS 图所示增益值与相应参考反射体的回波高度联系起来。校准试块有时也可作参考试块用。斜探头的参考试块尺寸应足够大 , 以便用双探头 V 形反射法测量传输损失。参考试块的所有检测面应有相同的粗糙度。 ( 可借助于圆弧面反射如 1 号校准试块或 2 号图 10 　通用 D GS 图 ) 校准试块 ,用 D GS 法校准灵敏度 ,只要已知探头对 Δ Δ 由此通用 D GS 图 ,可对常用探头型式导出钢的这些试块的校正系数 Vk 。由此 Vk 可对圆弧面 Δ 专用 D GS 图。借此 ,不用计算就能直读出当量反射与平底面之间的声能反射差进行补偿。若 Vk 符 ( ) 体的尺寸图 11 。 Δ