电缆性能测试方法 ------导体直流电阻的测试 孙正虎 1、定义 11、gb .ppt

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电缆性能测试方法导体直流电阻的测试孙正虎定义规定试验方法使用的范围不适用于测量已安装的电线电缆的直流电组规定试验方法直流电阻其测量范围为双臂电桥单臂电桥及以上测量原理电桥平衡原理伏安法测量欧姆定律电桥单臂电桥惠斯登电桥如图所示四个电阻连接成一个四边形每一条称作电桥的一个臂对角之间连接电源和限流电阻对角之间连接检流计调节使两点点位相等这时检流计应指向即桥上无电流通过称电桥达到平衡可以得到即注意是已知数采用电桥测量法已消除了电流表内接电阻和外接电阻带来的测量系统误差但导线本身的电阻与接线处的接触电阻

电缆性能测试方法 ------导体直流电阻的测试 孙正虎 1、定义 1.1、GB/T3048.4-2007规定试验方法使用的范围:不适用于测量已安装的电线电缆的直流电组。 1.2GB/T3048.4-2007规定试验方法直流电阻,其测量范围为: 双臂电桥:2*10-5—99.9 ? 单臂电桥: 1?-100 ?及以上。 1.3、测量原理(电桥平衡原理) 1.3.1、伏安法测量(欧姆定律) R=U/I 1.3.2、电桥 单臂电桥(惠斯登电桥): 如图所示,四个电阻R1、R2、R0、RX连接成一个四边形、每一条称作电桥的一个臂,对角AC之间连接电源E和限流电阻R、对角BDZ之间连接检流计G、调节R0使B、D两点点位相等,这时检流计应指向0,即桥上无电流通过、称电桥达到平衡可以得到 R1/R2=RX/R0 即RX=R1/R2*R0 注意:R1、R2、R0是已知数。采用电桥测量法已消除了电流表内接电阻和外接电阻带来的测量系统误差。但导线本身的电阻与接线处的接触电阻对测量结果仍然会有影响,经分析认为当测量0.1?以下的低电阻时附加的电阻是不能忽略的,因此在测量低电阻时、需要对线路进行改进。 连接电源和连接检流表的导线电阻可以分别并入电源和检流计的内阻里,对于测量结果没有影响,因此在实际线路中R1与R2均可以选用值较高的电阻。 1.3.2.1单臂电桥 单臂电桥原理图 1.3.2.2双臂电桥原理 双臂电桥(开尔文电桥) 通过单臂电桥原理图可以知道,连接电源和连接检流表的导线电阻可以分别并入电源和检流计的内阻里,对于测量结果没有影响,因此在实际线路中R1与R2均可以选用值较高的电阻。由于待测量的电阻RX是低电阻,因此R0也必须是低电阻,即必须考虑与RX及R0相连接的4根导线及接点A、B、C的电阻对测量结果的影响。 为了消除这些电阻的影响改进了单臂电桥原理接线图,将A分成A1与A2两点,将C也分成C1与C2,这样不仅将A点与C点直接移到了电阻RX与R0上,使得A点到RX的导线及C点到R0的导线都缩短为零,消除了这两根导线的电阻影响,而使得A1、C1的接触电阻并入电源的内阻,A2、C2的接触电阻并入R1、R2的电阻中,这样有消除了A、C点的接触电阻的影响。 为了消除B点的接触电阻和B点与R0相连的导线电阻影响,线路中增加了R3、R4两个较高的电阻,让B点移到跟R3、R4及检流计相连,这样消除了B点的接触电阻的影响,为了消除RX与R0相连的导线的附加电阻的影响同样把RX与R0相连接的两个接点各自分开分成B1、B3与B2、B4而B3、B4的接触电阻可以并入较高电阻值的R3、R4中,将B1、B2用粗导线相连接,并设B1、B2间的联线电阻和接触电阻的和为r、适当调节R1、R2、R3、R4的阻值就可以消除附加电阻r对测量结果的影响 1.3.2.2双臂电桥原理图 双臂电桥原理图 双臂电桥原理 当调节R1、R2、R3、R4使得检流计中的电流平衡(电流为零)时、 RX=R1/R2*R0+【rR4/(R3+R4+r)】* 【R1/R2-R3/R4】 如R1=R3,R2=R4,或者使R1/R2=R3/R4, 即RX=R1/R2*R0 这样消除了r对测量结果的影响。 为了保证在使用电桥过程中始终满足 R1/R2=R3/R4这个条件、通常将电桥作成一种特殊的结构,即将两对比率臂(R1/R2和R3/R4)采用所谓双十进的电阻箱,两个比率相同的十进电阻的转臂连接在一转轴上,因此在转臂的任意位置都能保证满足这一条件。 因此这种桥式线路是在惠斯登电桥的基础上又增加了两个电阻臂R3、R4,并使得R1和R2作相应的变化,由于这种桥式线路有两对电阻臂也叫双臂电桥。 2、试验设备及方法 3.1试验设备: 单臂电桥:传统的型号有QJ-19,QJ-36 、QJ-57等 双臂电桥:传统的型号有QJ-19,QJ-36 、 QJ-44 、QJ-57等 3.2、DZ-2型线缆导电线芯直流电阻测量仪(各个试验室均有配备) 随着科学的发展电子计算机技术的运用、有许多自动或半自动的直流电组检测设备而产生他们的工作原理都采用了双臂电桥的工作原理。 3、样品的处理及试验步骤 3.1、试样制备:以成盘(圈)的电线电缆作为试样,去除试样两端与测量系统相连部位的覆盖物,露出导体。去除覆盖物时应小心进行,防止损伤导体。 3.2环境温度:试样应在环境温度(5—35)℃中放置足够的时间,在试样放置和试验过

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