数电实验报告 实验八 寄存器功能测试及应用3.docVIP

数电实验报告 实验八 寄存器功能测试及应用3.doc

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040812朱孝刚 实验八 寄存器功能测试及应用 一、实验目的 1、熟悉寄存器的电路结构和工作原理。 2、掌握集成移位寄存器74HC194的逻辑功能和使用方法。 二、实验设备及器件 1、数字逻辑电路实验板 2、74HC74双D触发器 2片 3、74HC04六反相器1片。 4、74HC194四位双向通用移位寄存器1片。 三、实验原理 移位寄存器是一个具有移位功能的寄存器,是指寄存器中所存的代码能够在移位脉冲的作用下依次左移或右移。既能左移又能右移的称为双向移位寄存器,只需要改变左、右移的控制信号便可实现双向移位要求。根据移位寄存器存取信息的方式不同分为:串入串出、串入并出、并入串出、并入并出四种形式。   本实验选用的4位双向通用移位寄存器,型号为74HC194,两者功能相同,可互换使用,其逻辑符号及引脚排列如图8-1所示。功能表如表8-1所示。 图8-1 74HC194引脚排列 其中 D0、D1 、D2 、D3为并行输入端;Q0、Q1、Q2、Q3为并行输出端;SR 为右移串行输入端,SL 为左移串行输入端;S1、S0 为操作模式控制端;为直接无条件清零端;CP为时钟脉冲输入端。 表8-1 功能 输 入 输 出 CP S1 S0 SR SL DO D1 D2 D3 Q0 Q1 Q2 Q3 清除 × 0 × × × × × × × × 0 0 0 0 送数 ↑ 1 1 1 × × a b c d a b c d 右移 ↑ 1 0 1 DSR × × × × × DSR Q0 Q1 Q2 左移 ↑ 1 1 0 × DSL × × × × Q1 Q2 Q3 DSL 保持 ↑ 1 0 0 × × × × × × 保持 ↓ 1 × × × × × × × × 四、实验内容与步骤 1、利用两块74HC74(四个D触发器)构成一个单向的移位寄存器。 参照图8-2搭接电路,观察并记录结果于表8-2。 图8-2 右移移位寄存器 表8-2 CP 输入数据 D 右移移位寄存器输出 Q3 Q2 Q1 Q0 0 0 0 0 0 0 1 1 0 0 0 1 2 0 0 0 1 0 3 1 0 1 0 1 4 1 1 0 1 1 步骤: 将两片74HC74双D触发器按电路原理图连线 将输出端Q0、Q1、Q2、Q3分别连接到LED端1,2,3,4 实验结果: 当D只输入零时,可以看到LED灯按次序亮;当D只输入1时,看到LED依次灭。 2、验证74HC194的功能,观察左移、右移功能。 按图8-3接线,、S1、S0、SL、SR、D0、 D1、D2、D3分别接至逻辑开关的输出插口;Q0、 Q1、Q2、Q3接至LED灯。CP端 接单次脉冲源。按表8-1所规定的输入状态, 逐项进行测试。 图8-3 74LS194逻辑功能测试 步骤: 按实验原理图连接74HC194四位双向通用移位寄存器 将输出端Q0、Q1、Q2、Q3分别连接到LED端1,2,3,4 按实验要求连接寄存器,验证表8-1(通过观察LED灯的亮灭情况) 结果: 对表8-1验证知,芯片工作正常。例如,当CrS1S0=111时,工作于送数状态,输入1010时,输出也为1010(LED灯情况为:灭亮灭亮)。 体会: 通过本次实验,让我在实验中体会到了通用寄存器的移位功能,尤其是双向移位性能。并且用D触发器组合而成的移位寄存器也很好的表现了移位功能。实验中,对同步触发的理解也更加深入,收获不少。 74HC194 D Q Q Q0 F0 D Q Q F1 D Q Q Q2 F2 D Q Q F3 1 Q1 Q3 串出 串入 消除 CP Rd Dn 74HC194

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