数电实验报告 实验八 寄存器功能测试及应用32.docVIP

实验八 寄存器功能测试及应用 一、实验目的 1、熟悉寄存器的电路结构和工作原理。 2、掌握集成移位寄存器74HC194的逻辑功能和使用方法。 二、实验设备及器件 1、数字逻辑电路实验板 2、74HC74双D触发器 2片 3、74HC04六反相器1片。 4、74HC194四位双向通用移位寄存器1片。 三、实验原理 移位寄存器是一个具有移位功能的寄存器，是指寄存器中所存的代码能够在移位脉冲的作用下依次左移或右移。既能左移又能右移的称为双向移位寄存器，只需要改变左、右移的控制信号便可实现双向移位要求。根据移位寄存器存取信息的方式不同分为：串入串出、串 入并出、并入串出、并入并出四种形式。 本实验选用的4 位双向通用移位寄存器，型号为CC40194 或74HC194，两者功能相同，可互换使用，其逻辑符号及引脚排列如图8－1 所示。功能表如表8-1 所示。 图8－1 74HC194 引脚排列 其中 D0、D1 、D2 、D3 为并行输入端；Q0、Q1、Q2、Q3 为并行输出端；SR 为右移串行输入端，SL为左移串行输入端；S1、S0 为操作模式控制端； R C 为直接无条件清零端； CP 为时钟脉冲输入端。 功能 输入 输出 功能 CP 清除 × × × × × × × × × 0 0 0 0 送数 ↑ 1 1 1 × × a b c d a b c d 右移 ↑ 1 0 1 × × × × × 左移 ↑ 1 1 0 × × × × × 保持 ↑ 1 0 0 × × × × × × 保持 ↑ 1 × × × × × × × × 四、实验内容与步骤 1、利用两块74HC74（四个D触发器）构成一个单向的移位寄存器。 参照图8-2搭接电路，观察并记录结果于表8-2。 图8-2 右移移位寄存器 表8-2 2、验证74HC194的功能，观察左移、右移功能。按图8－3接线，CR、S1、S0、SL、SR、D0、D1、D2、D3分别接至逻辑开关的输出插口；Q0、Q1、Q2、Q3接至逻辑电平显示输入插口。CP端接单次脉冲源。按表8－1所规定的输入状态， 逐项进行测试。 图8－3 74LS194逻辑功能测试 3、用74HC194组成七位串行输入转换为并行输出电路。 按图8－4 接线，进行右移串入、并出实验，串入数码自定；改接线路用左移方式实现并行输出。 图8－4 串并转换电路 转换前，端加低电平，使1、2 两片寄存器的内容清0，此时S1S0＝11，寄存器执行并行输入工作方式。当第一个CP 脉冲到来后，寄存器的输出状态Q0～Q7 与此同时S1S0 变为01，转换电路变为执行串入右移工作方式，串行输入数据由1 片的SR 端加 入。随着CP 脉冲的依次加入，输出状态的变化可列在表8-3 中。 表8－3 由表8－3 可见，右移操作七次之后，Q7 变为0，S1S0 又变为11，说明串行输入结束。这时，串行输入的数码已经转换成了并行输出了。 当再来一个CP 脉冲时，电路又重新执行一次并行输入，为第二组串行数码转换作好了 准备。 五、实验注意事项 1、注意集成块功能端有效的状态。 2、使用移位寄存器的时候注意左移和右移的方向。 六、实验感想 实验中出现问题，当你仔细检查过你的电路都没有问题的时候，可以尝试着看看你所使用的元器件是否有问题，正如这次我在实验中发现我的指示灯（led）老是不亮，当我直接测试这个灯时，发现这等直接就是坏的，而出户乎我意料的是，坏掉的灯不止一个，八个中坏了五个！还有，那个芯片的一个脚可能已经坏了，不然我怎么会老是有移不了，当我换掉一个芯片后，果然就好了。还有，在测试中，要注意全面，这点有点像软件的测试，可以试试两个极端，再在中间取一个情况，如果不可能全部都测试到的话。