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38 5 Vol38No5
第 卷第 期 东南大学学报(自然科 学版 )
2008 9 Sept.2008
年 月 JOURNALOFSOUTHEASTUNIVERSITY(NaturalScienceEdition)
超声椭圆振动 化学机械复合抛光硅片实验研究
1,2 1 3
杨卫平 徐家文 吴勇波
1
( , 210016)
南京航空航天大学江苏省精密与微细制造技术重点实验室 南京
2
( , 330045)
江西农业大学工学院 南昌
3
( , 0150055)
日本秋田县立大学机械智能系统工程系 秋田
: ,
摘要 在研制超声椭圆振动 化学机械复合抛光硅片实验装置基础上 进一步开展了抛光压力
P, v Q 、
抛光点速度 及抛光液供给量 等可控工艺参数对硅片抛光表面粗糙度 表面形貌和材料去
. :
除率影响的有无超声椭圆振动辅助抛光的对比实验研究 实验结果表明 抛光工具的超声椭圆振
, ;
动有利于抛光垫保持良好的表面形貌和抛光区获得良好的工作状况 提高硅片材料的去除率 抛
, , ; ,
光压力对抛光质量的影响最大 抛光速度次之 抛光液供给量影响最小 在最佳抛光效果情况下
R0077 m
可使硅片抛光表面粗糙度值由传统抛光法所获得的 a μ 降到超声辅助抛光法的
R0042 m, 18%, .
a μ 材料去除率最多可提高 并且工件表面形貌有明显改善
: ; ; ; ;
关键词 超声椭圆振动 化学机械抛光 复合 表面形貌 材料去除率
中图分类号:TH16 文献标识码:A 文章编号:1001-0505(2008)05091206
ExperimentalinvestigationofsiliconwaferhybridpolishingbyUEVCMP
1,2
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