第三章PLED 瑕疵检测研究方法设计.PDF

第三章 PLED瑕疵檢測研究方法設計 PLED 為平面顯示器產品，製造商在意產品本身是否有瑕疵與面板通電後的 亮度與色度是否均勻。外觀方面，除了表面刮傷瑕疵，膠寬是否符合規格也是廠 商在意的因素。許多研究 [1 ，2]利用 CCD （Charge Coupled Device ，光電耦合元 件）作為光學檢測儀器的取像工具。CCD有許多方面優於色彩分析儀 （Colorimeter ），然而，本研究希望利用實際的量測來證明CCD 不但在價格、速 度等條件（如表 2.1 ）上具有優勢外，其量測的結果與業界慣用的色彩分析儀具 有相似的色彩與亮度分佈趨勢，可以用來作為光學檢測儀器之取像工具。 表2.1 CCD 與Colorimeter的比較 CCD Colorimeter 價格 低(約Colorimeter的 1/10) 高 測量範圍 可搭配其他鏡頭做調整 固定 單通道( ) 測量速度 快(0.1sec) 慢 (1 sec) 量測適用範圍 小區域不均勻 大區域不均勻(如LCD螢 幕畫面左右的不均勻) 本章分成兩大部分，第一部份為利用色彩分析儀量測PLED的亮度為依據， 證明 CCD當作影像分析之取像工具的可用性。第二部分著重於 PLED面板瑕疵 的檢測；瑕疵則分為發光點不均勻與膠寬不均勻。 3.1色彩分析儀與 CCD 之量測方法 同 [2]所使用的 PLED 夾具與通電設備，如下圖3.1所示，將通電後的 PLED 影像使用色彩分析儀量測，其量測範圍如圖 3.2所示，所量測的色度與亮度以黑 色實心圈涵蓋處為範圍，以 4×4 涵蓋範圍為例，其實際涵蓋半徑約為0.86mm ， 面積約為 2.322mm×mm 。 19 　 圖 3.1　 PLED通電後影像 圖 3.2　色彩分析儀量測涵蓋範圍示意圖 色彩分析儀所量測出來的值包含了顏色與亮度，顏色以 XYZ色彩空間 （Color Space ）中的X 、Y 表示，亮度（Luminance, Lv ）以Nit （平方燭光）為單位表示 之[20] 。 3.1.1 比較色彩分析儀與CCD的拍攝結果 PLED 片具有 128 （行）×64 （列）個發光點。首先利用色彩分析儀以4×4 個發光點為涵蓋範圍大小，逐點量測其亮度值，並將此值正規化至 0 至255的範 圍內，如圖 3.3所示： 圖 3.3 以色彩分析儀測量儀得到的PLED面板亮度分佈示意圖 同樣的，以 CCD拍攝 PLED面板，計算每個子影像中之第九十百分位灰階值作 20 為子影像代表值作圖，得到如圖 3.4 ： 圖 3.4 以CCD得到的 PLED面板亮度分佈示意圖 如預期般，兩者所拍攝出來的結果雖然在細部有差異，不過大體上有相似的 亮度分佈趨勢，如本實驗樣本，都是畫面的左下方偏亮而右半部偏暗，故可選用 CCD作為光學檢測的取像工具。 3.1.2 重複性（ Repetition ）與小幅移動（Shift ）的量測 第二個部分，第一步先利用色彩分析儀對 PLED面板上某一固定點重複量測 30 次，計算其變異數，觀察色彩分析儀量測的穩定性，並改變量測涵蓋範圍（圖 3.2的黑點涵蓋處） ，觀察涵蓋範圍大小與穩定性之間的關連。 接著，為了瞭解色彩分析儀是否真正會因量測時所涵蓋的發光點（Cell ）與 間隙（ Gap ）之比例不同而有差異（如圖3.5的 1處所涵蓋的完整橫向間隙數為 1條， 2處所涵蓋的完整橫向間隙數卻有兩條，涵蓋面積不變的情況下，其發光 點與間隙的比例便有不同）。第二步將涵蓋點以順時針方向