SDRAM测试方法的研究和实现 Research and implementation of SDRAM test method.pdfVIP

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2017-08-02 发布于上海
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SDRAM测试方法的研究和实现 Research and implementation of SDRAM test method.pdf

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SDRAM测试方法的研究和实现 Research and implementation of SDRAM test method

己口口日年5月 JⅥj 理论与方法、-～一．k．m：?：。¨☆tk-～一、。Lw…t|舭¨|i‰h*～“舢㈨蛳{★～t～‘“★～‰袖恤“q船蝴“埘自■，、j’一’、=／1J第己7卷第5期2- 一√三：=：。1一鬟鼎=纛=翟嚣：冀麓然嚣麓船 SDRAM测试方法的研究和实现 “赵雪莲1’2杨新涛1’2 (1．北京自动测试技术研究所北京 100088； 2．北京集诚泰思特测试技术有限公司北京 100088) 摘要：咣M与其它存储器相比，具有速度快、容量大、价格低、集成度高的优势；然而，SDRAM的测试却是一大难题。针 ATE上SDRAM测试程序的开发。通过验证，该方法可以很好的解决长期以来SDRAM入库测试难的问题。关键词：算法图形产生器；测试向量；自动测试仪；SDRAM 中图分类号：TP274．5文献标识码：A Researchand ofSDRAMtestmethod implementation ZhaoXuelianl’2 Xinta01·2 Yang InstituteofAutomaticTest (1．Beijing Technology。Beijing100088； 2．Beijing Taisite Limited 100088) Jicheng TeehnolopyCot．，Beijing Abstract：SDRAMhasthe of and advantageshighspeed，largecapacity，lowpricehigh iSsomewhatdifficultbasedondomesticATEs．In of considerationthe situationthatthedomesticusers testing present havesome ontheSDRAM discussesthes】)RAM andresearchedrelated is- problems testing，thispaper theory testing sues．TaketheHY57V281620asan thetest the ondomesticATE，withverificationof example，itdevelopesprogram methodiS tohavesolvedtheSDRAMissueswell． experiments，this testing very proved Keywords：APG；testvector；ATE；SDRAM 测试仪、丰富的测试经验积累以及先进的测试技术是保证 0引言