ZnO电阻片寿命内冲击老化的研究 Study on Surge Degradation During Lifetime of ZnO Resistance.pdfVIP

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2017-08-02 发布于上海
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ZnO电阻片寿命内冲击老化的研究 Study on Surge Degradation During Lifetime of ZnO Resistance

2010年第2期(总第234期) 电瓷避雷器 N02．2010(Ser．No．234) 2010年4月 and Insulators Arresters Surge Apr．2010 文章编号：1003—8337(2010)02--0044-04 ZnO电阻片寿命内冲击老化的研究陈荣11周文俊2w王保山3 (1．天津市电力公司技术中心，天津300384；2．武汉大学高电压研究所，武汉430072； 3．国网电力科学研究院．武汉430074) 摘要：分析了冲击电流对ZnO电阻片的老化影响。通过试验研究放电电流的幅值大小、波形、放电次数以及环境温度四个因素对老化的影响，并推导基本规律：结合标准对非线性金属氧化物电阻片性能要求的规定，提出能够一定程度上反映ZnO电阻片剩余寿命的参数．给带间隙线路避雷器提供了一种新的在线监测方法。相关的产品已经研发出来．现场应用效果良好。关键词：ZnO电阻片；冲击老化：老化寿命中图分类号：TM862 文献标识码：A on LifetimeofZnOResistance StudySurgeDegradationDuring CHEN Bao-shan3 Ron91，ZHOU Wen-junz，WANG Centerof ElectricPower (1．TechnicalTi粕jing Company，Tianjin300384，China；2．WuhanUnivemityHiglIVoltage GridElectric Research Institute，Wuhan430072，China；3．StatePower Institute，Wuhan430074，China) Abstract：Theof currenttothe ofZn0resistancewas effect impactimpulse aging analyzed．The offourfactorson whichincludedcircumstance andtimesof aging currentstudied was were test，andsomefundamental with discharge by principleinduced；incorporated non—linearmetaloxideresistance standards，a in performancerequirementsprescribedby parameter restlifetimeofarresterresistanceWas resultaffordedanewonline methodto flecting proposed．The testing monitorlineattesterswith related Was withwell gap，some