采用热敏检测的绝缘介质寿命记录仪 Life Recorder of Dielectric Based on Microcontroller.pdfVIP

下载本文档

16
0
约2.74万字
约 6页
2017-08-03 发布于上海
举报
版权申诉

采用热敏检测的绝缘介质寿命记录仪 Life Recorder of Dielectric Based on Microcontroller.pdf

1、原创力文档（book118）网站文档一经付费（服务费），不意味着购买了该文档的版权，仅供个人/单位学习、研究之用，不得用于商业用途，未经授权，严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等，侵权必究。。
2、本站所有内容均由合作方或网友上传，本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺！文档内容仅供研究参考，付费前请自行鉴别。如您付费，意味着您自己接受本站规则且自行承担风险，本站不退款、不进行额外附加服务；查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档，您可以点击这里二次下载。
3、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等，请点击“版权申诉”（推荐），也可以打举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
4、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
5、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
6、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
7、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

第33卷第12期 2 高电压技术 Vol_33NO．1 ·44· 2007年 12月 Voltage Dec． 2007 High Engineering 采用热敏检测的绝缘介质寿命记录仪雷克刚，吴广宁，高波，何景彦，刘君 (西南交通大学电气工程学院，成都610031) 摘要：在多路绝缘介质高压方波寿命试验中，为提高加速老化绝缘寿命试验的效率，设计了监控记录各试验支路状态的热敏检测绝缘介质寿命记录仪。该仪器通过PTC热敏电阻监测高压回路中限流电阻温度变化提取介质击穿信号，以单片机AT89c55为运算控制中心，采用热信号时间差分数字算法处理及控制信号。该方式受电磁干扰小，与高压回路无直接电气连接安全性高。该记录仪已实际应用，可在1～3S内切除击穿支路，击穿时间记录误差2％。装置动作时间内因其限流电阻作用能有效保护脉冲电源。关键词：寿命试验}击穿；热敏电阻；检渊；纪录仪；绝缘介质中图分类号：TM934．3 文献标志码：A 文章编号：1003—6520(2007)12-0044-05 of’DielectricBasedon】ⅥicrOcontroller LifeRecorder I。El Bo，HE Jun Ke—gang，WUGuang—ning，GAOJing—yan，LIU ofElectrical 61003l，China) (School JiaotongUniversity，Chengdu Engineering，Southwest lifetimerecorderis inthe life ofdielectricmaterialbecause of Abstract：A requiredageingtesting paralleltesting withinlesstime andmoreexact recorderbasedonthethermalresistorsis isallowed data．A multi—samples costing usedtomonitorandrecordthestateofthedielectricwhichis intoHV wavelife tern— sample put square testing．The of resistorsinstalledinseriesintheHVtestcircuitisalmostthesameastheconditionbefore thelimiting perature ofthe wasbroken ofthe resistor the alebrokendown．Onceone samples samples down，thetemperaturelimiting