基于知识的红移测量和谱线证认方法Red Shift Determination and .PDF

第28 卷第 1 期 电 子 与 信 息 学 报 Vol.28No.1 2006 年 1 月 Journal of Electronics Information Technology Jan. 2006 基于知识的红移测量和谱线证认方法 刘 蓉① 段福庆② 刘三阳① 吴福朝② ①(西安电子科技大学数学系 西安 710071) ②( 中国科学院自动化所模式识别国家重点实验室 北京 100080) 摘 要：该文给出了一种基于知识的天体光谱的红移测量和谱线证认方法。首先，利用特征谱线的相关知识对红移 候选和特征谱线候选进行了定义，并根据定义交叉确认红移候选和特征谱线候选；然后，利用 Parzen 窗法对所得 到的红移候选集进行密度估计；最后，确定密度最大的