系统可靠度试验室SystemReliabilityLab国立云林科技大学工业工程.PPTVIP

Planning accelerated life tests with three constant stress levels 作 者：Loon-Ching Tang, Aik-Peng Tan and Soon-Huat Ong 主講人：廖翊亨 前言 對於有三應力水準的固定的應力加速試驗，提出兩種規劃方法 最佳化應力水準 最佳化樣本配置 為了管理容易，通常使用固定的應力加速試驗計劃，由等間隔的測試應力所組成，其中每一個具有相同測試樣品個數。 在設計的應力下，這樣的標準計劃對於估計產品可靠度常常是效率低的。 Meeker與Hahn(1985)提出對於低(4)、中(2)、高(1)的應力水準的配置比例，和透過中應力是低應力與高應力的平均的假設，給予最理想的低應力水準。 近年來，已有一些研究是對於在其它測試限制或允許非固定形狀參數下，延伸4：2：1 的配置比例的計劃。 結果，在設計應力上，估計的變異是高於那些在兩應力水準的最佳計劃之下的。 在本文中，對於計劃三應力固定應力加速試驗，提出了最佳化低應力與中應力兩者方法，並且將它們個別配置。 初步假設 Low stress level Middle stress level High stress level Design stress 這些應力的每一水準測試全部的單位，直到一個共同預先指定的設限時