SoC芯片可测试性设计策略的实现研究 A study on the implementation of DFT strategies for SoC design.pdfVIP

第16卷第2期 电路与系统学报 V01．16No．2 2011年4月 JOURNALOFCIRCUITSANDSYSTEMS April，201l 文章编号：1007—0249(2011)02—0056—06 SoC芯片可测试性设计策略的实现研究· 胡明明1,3， 王小力2,3 (1．西安交通大学电子与信息工程学院1723信箱，陕西西安710049： 2．西安交通大学理学院，陕西西安710049；3．西安交通大学VLSI设计研究中心，陕西西安710049) 研究。该系统采用UMC OnReset)、 0．13pm Out 降压转换器LDO(Low Locked box)、ADC、USB Dropregulator)、锁相环