钽电解电容器噪声测试方法及应用研究.pdfVIP

钽电解电容器噪声测试方法及应用研究 王栋，杜磊 西安电子科技大学，西安（710071 ） E-mail ：vieriking@126.com 摘 要：针对电容器噪声难以测量的状况，本文结合钽电解电容器本身的特性，设计了一 种新的噪声测试方法。结果表明，利用该方法测量和分析钽电解电容器噪声，所测噪声可 以表征钽电解电容介质的损伤状态。通过分析噪声产生的原因发现，自愈合效应引起的介 质结构变化是钽电解电容器产生额外噪声的主要原因。 关键词：可靠性；噪声测量；钽电解电容；介质 随着电子器件朝着高性能、小尺寸和长寿命方向发展, 传统的寿命试验性可靠性评价方法 的局限性日益显著。近年来，大量研究结果表明，对于大多数电子器件, 噪声对于导致器件失 效的各种潜在缺陷极其敏感［1－3 ］。噪声可靠性表征方法具有灵敏、普适、快速和非破坏性 的突出优点。该方法正在发展成为一种新型的电子器件可靠性表征工具［4 －8］。但是一些特 殊的电子元件如极低电阻(金属接触) 、极高电阻( 电容器) 、极小电流(反偏半导体结) 和极大 电流(功率器件)等特殊器件结构的噪声测量也是一个有待解决的问题[10-11]。对电容器而言， 由于其本身结构原因，直流信号无法通过，所以传统的噪声测试方法无法对其噪声进行测量。 本文之所以选择钽电解电容器作为研究对象，是由于这种电容器具有寿命长、绝缘电阻 高、漏电流小、阻抗频率特性好、可靠性高等优点，而广泛的应用于通信、航天和军事工业、 海底电缆和高级电子装置等多方面。因此，研究钽电解电容器噪声及其可靠性具有现实的意 义。同时由于钽电解电容器是一种典型的金属－绝缘体－半导体（MIS ）结构，其噪声的研究 方法可推广到其他的 MIS 结构。 针对上述情况，本文设计了一种新的实验方法用来测量钽电解电容器介质的噪声，通过 对钽电解电容介质测量噪声的分析，探讨噪声产生原因，并探讨噪声在电容器缺陷表征方面 应用的可行性。 1 钽电解电容器噪声测量方法 1.1 电容器噪声测量现状和问题 在电子元器件低频噪声测量研究领域中，有一类器件较为特殊，即电容器的噪声测量问 题。该类器件共同的特点是测试样品的等效阻抗极大，常规的噪声测试方法是将电容器等效 为阻抗极大的阻抗性元器件，对其施加一定的直流偏置，然后测量它的漏电流噪声。测试原 理图如下所示： 图 1.直流偏置噪声测试电路 Fig1.DC-partial noise measrue circuit - 1 - 由于电容器本身具有隔断直流的特点，采用该方法时，直流偏置产生的噪声信号会非常 的微弱，很容易被测试系统的背景噪声所淹没，并且容易受到外界信号影响，测试难度非 常大。 要解决电容器噪声测量中的问题和困难，需要特殊的测试系统来反映电容器的噪声。通 过分析电容器本身结构及工作方式，本文提出了一种新的噪声测试系统方案：在被测器件上 加上一定的直流偏置，再在被测器件上偶合一个较高频率的低噪声交流信号，这样电容产生 的噪声信号就会被叠加在交流信号上，将混合信号经过低噪声放大器进行放大，然后采集噪 声幅值的时间序列，最后将混合信号由时域转变到频域，分析其低频部分的噪声。 1.2 噪声测试电路 本文所研究的噪声测量方法原理框图如图 2 所示。 图2.钽电解电容介质噪声测试系统 Fig2. Tantalum Capacitor noise measure system 下面对系统硬件各部分做一简单介绍： (1)偏置电路 为被测器件提供偏置电压或电流，并可在一定范围内调整，一般采用镍氢 充电电池，其特点是具有