逐行复位快闪式CMOS焦平面读出电路的测试方法-激光与红外.PDF

第 34 卷 　第 6 期 　　　 　　　　　　　　　　　　激 光 与 红 外 Vol. 34 ,No. 6 　2004 年 12 月 　　　　　　　　　　　　　　LASER 　　INFRARED December ,2004 ( ) 　　文章编号 2004 逐行复位快闪式 CMOS 焦平面读出电路的测试方法 1 1 1 1 2 2 高 　峻 ,陈中建 ,鲁文高 ,吉利久 ,赵建忠 ,董 　硕 ( 1. 北京大学微电子研究院 ,北京 100871 ;2. 华北光电技术研究所 ,北京 100015) 摘　要 :介绍了一种逐行复位快闪 CMOS 焦平面读出电路的测试方法及测试结果。该电路基 于电荷转移原理 ,采用逐行复位方式。基于测试考虑 ,设计了模拟光电流的测试管 ,和可调节 的工作时序。设计了一种新的测试方法测量出了内部寄生参量。除此以外对电路的其他重要 参数进行了详细测量。 关键词 :焦平面 ;读出电路 ;测试方法 中图分类号:TN46 　　　文献标识码 :A Testing Method of Reset Rowby row Snapshot Charge Amplifier CMOS Readout IC for Focal Plane Array 1 1 1 1 2 2 GAO Jun ,CHEN Zhongjian ,LU Wengao ,J I lijiu ,ZHAO Jianzhong ,DONG Shuo ( 1. Institute of Microelectronics ,Peking University ,Beijing 100871 ; 2. North China Research Institute of Electrooptics ,Beijing 100015 ,China) ( ) Abstract :The testing method and measurement results of RRSCA Reset Rowbyrow Charge Amplifier are presented in this paper. That circuit works based on charge transfer principle and resets row by row. For testing ,test MOSFETs are inserted for testing to simulate the photo current ,and the circuit timing can be adjusted to change the work mode. A novel testing method is introduced for measuring the inner parasitic parameters. The other important parameters are also measured. Key word