结合我国的实际情况,对GB1553.PDFVIP

GB/r 1553一1997 前 言 本标准等效采用美国试验与材料协会ASTMF28-90《光电导衰减法测量锗和硅休内少数载流子 寿命的标准测试方法》，结合我国的实际情况，对GB1553-79,GB5257-85进行修订而成的。 本标准起草时，删去了F28-90中“有害说明”及’关‘键词’，章节，删减了“意义和用途”中的5.1- 5.2条内容，合并了“方法A”和 “方法Be 考虑到实际应用的需要，本标准把GB1553-79的附录A 硅《单晶中少数载流子寿命测定 高频 光电导衰减法》非仲裁测量方法作为标准的附录放在附录A中。 本标准从1997年12月1日起实施。 本标准从生效之日起，同时代替GB1553-79,GB5257-850 本标准的附录A是标准的附录。 本标准由中国有色金属工业总公司提出。 本标准由中国有色金属工业总公司标准计量研究所归口。 本标准起草单位:峨嵋半导体材料厂、中国有色金属工业总公司标准计量研究所。 本标准主要起草人:吴道荣、刘文魁、尹建华、吴福立。 中华人民共和国国家标准 硅和锗体内少数载流子寿命测定