静态随机存取存储器重离子单粒子翻转效应实验研究.pdfVIP

　第 22 卷　第 2 期 核电子学与探测技术 . 22　 . 2　 V o l N o 　 2002 年　3 月 N u clear E lect ron ics D etect ion T echno lo gy M arch　2002　 静态随机存取存储器重离子单粒子 翻转效应实验研究 1 1 1 1 1 1 贺朝会 , 耿　斌 , 王燕萍 , 杨海亮 , 张正选 , 陈晓华 , 1 2 2 2 2 2 李国政 , 路秀琴 , 符长波 , 赵　葵 , 郭继宇 , 张　新 (1 西北核技术研究所, 陕西西安 69 信箱 13 分箱　7 10024; 2 中国原子能研究院, 北京　1024 13) 　　摘要: 应用重离子加速器和252Cf 源进行单粒子翻转效应实验, 测量得到 ID T 系列和HM 系列静态 随机存取存储器的单粒子翻转重离子 阈值为 4～ 8 · 2 , 单粒子翻转饱和截面为 10- 7 L E T M eV cm m g 2 · - 1 量级, 位单粒子翻转截面随集成度的提高而减小。实验结果表明, 可以用252 源替代重离子 cm b it Cf 加速器测量静态随机存取存储器的单粒子翻转饱和截面。 关键词: 静态随机存取存储器; 重离子加速器; 252Cf 源; 单粒子翻转效应 中图分类号: 　 47; 57 1. 33　　文献标识码: 　 　　文章编号: (2002) 020 155 TN O A 03 转”, 首先要降低重离子束流强度。采用金箔散 0　引言 射法降低束流强度 4～ 5 个量级, 即用重离子轰 空间辐射环境中的带电粒子会导致航天器 击 靶, 利用散射离子来辐照样品。 靶的 A u A u 的电子系统中的半导体器件发生单粒子效应, 厚度为 100～ 200 2 , 10 左右的重离子 g cm nA 严重影响航天器的可靠性和寿命。总的说来, 高 ( 束 流 入 射, 可 在 30 °处 得 到 所 需 强 度 约 能质子是主要的, 重离子所占比例不大, 但对于 3 - 2 - 1 ) 10 · 量级 的散射重离子束流。在真空 cm s 有的轨道, 如高轨道和地球同步轨道, 带电粒子 度约0.