基于c8051f040单片机的介质损耗变频测量仪设计 design of variable frequency dielectric loss meter based on c8051f040 mcu.pdfVIP

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基于c8051f040单片机的介质损耗变频测量仪设计 design of variable frequency dielectric loss meter based on c8051f040 mcu

第26卷第9期 v01.26 电力自动化设备 No.9 2006年9月 ElectricPowerAutomation Equipment sept.2006④ 8051F 基于C 040单片机的介质 损耗变频测量仪设计 李明东,黎文安,任 波,汪应春,王雅琚 (武汉大学电气工程学院,湖北武汉430072) 摘要:分析介质损耗传统测量方法和常用现代测量方法.现场测量时受工频电网强电场干扰的问 题比较突出.介质损耗变频测量方法成为解决问题的有效方法。在用变频法进行介质损耗现场测 量时,让试验电压偏离工频50Hz。使工频干扰成为异频干扰。基于这种变频法思想,结合傅里 叶变换频谱分析法推导了介质损耗参数的工频等效计算公式和算法。该方案以MAX197交流数 据采集芯片和C8051F 040单片机为数据采集和控制处理核心.给出了系统应用中的硬件设计及数据 处理方法。 关键词:C8051F040:MAXl97;介质损耗;变频测量 中图分类号:TP274.5 文献标识码:A 介质损耗是指绝缘材料在电场作用下.由于介 电流可分解为电容电流厶和电阻电流厶合成,因此: 质电导和介质极化的滞后效应.在其内部引起的能 量损耗,也叫介质损失。简称介损…。绝缘能力的下 降直接反映为介损增大.测量介损对判断电气设备 这正是损失角6的正切值。因此。现在的数字化仪器 的绝缘状况是一种传统的、十分有效的方法,进一 本质上是通过测量6或者多得到介损因数。变频 步就可以分析绝缘下降的原因,如:绝缘受潮、绝缘 测量就是采用非工频的高压电源作为测试电源(2]. 油受污染、老化变质等。传统测量方法对抗外界工 加在三C测试回路中.£为已知外加阻抗.从回路中 频干扰能力较差.测量设备本身也存在较大系统误 采集试品电压和电流信号的离散值.对采样序列进 差,变频测量可以很好地克服这些缺点[引.结合 行数字滤波.去除干扰信号。用傅里叶变换,求出电 C8051F 压和电流基波的幅值和相位.由此计算出tan6。 040单片机.可以自行对测量进行控制。对 结果进行分析、运算和显示。在电力系统中,精确测 量电力设备的介质损耗.对评估电力设备的使用寿 建举 R幸厶隧二 命.确保电力系统稳定运行具有重要意义。 1变频测量原理 在交变电场作用下.电介质内流过的电流相量 和电压相量之间的夹角(功率因数角西)的余角6 2系统实现方法 (6=900一空)为介质损耗角,简称介损角,其正切值 介质损耗变频测量系统硬件结构框图如图3 tan6又称介质损耗因数.把被测电力设备称为试 所示。由C8051F040单片机、MAX197交流数据 品.则介质损耗因数的定义如下: 采集芯片、电源模块及显示部分组成。 tan踮号×100% 式中尸、p分别为试品的有功、无功功率。 任何有介损的试品都可以模拟成RC串联(图1) 和并联(图2)2种理想模型[3],对于串联模型,如果 图3系统硬件框图 Theblock of haIdware 取得试品的电压相量U.总电压可分解为电容电压 Fig.3 diagmmsystem 巩和电阻电压%合成,因此:

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