基于cpld的测试系统接口设计 design testing system interface based on cpld.pdfVIP

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基于cpld的测试系统接口设计 design testing system interface based on cpld

电子工蠢师 V01.33No.6 EI点CTRONICENGINEER Jun.2007 基于CPLD的测试系统接口设计 高相铭,李国伟 (安彩集团,河南省安阳市455000) 摘 要:介绍了一种用CPLD(复杂可编程逻辑器件)作为核心控制电路的测试系统接口,通过对 度高、灵活性强、可靠性高、易于升级和扩展等特点。给出了主要电路图和时序仿真图。 关键词:CPLD;测试系统接口;VHDL 中图分类号:TM930.9 蔽,而传统的TTL器件数量多、体积大,由此带来的故 O 引言 障隐患大,可靠性低,故障诊断困难。 cPLD(复杂可编程逻辑器件)兼容了PLD(可编 程逻辑器件)和通用门阵列的优点,具有编程灵活、可 其他引脚P0 实现较大规模电路的特点,同时具有设计开发周期短、 P2 40针 WR 设计制造成本低、开发工具先进、标准产品无需测试、 RD 仿真头 质量稳定、可实时在线检验等优点,因此广泛应用于产 TXD RXD 品的原型设计和产品生产之中。 PSEN ALE 1 CPLD在测试系统中的作用 89C51/52 m涤舳墨裂船. 嬲箍般裟涮一 扁平线插头 嬲拦鬻篙嘏薹q 随着计算机和微电子技术的迅猛发展,单片机技 DATAOEwR低地址 术被广泛应用到各种智能仪表、工业控制及家用电器 高地址 探针 控制领域。但是它们在提高电路板的集成度、增强系 SRAM 统功能的同时也带来了很多测试和维修上的问题。传 图1系统硬件结构 统的测试仪器和设备(如万用表、示波器、逻辑分析仪 等)已不能适应现代测试要求,更无法快捷地诊断出 2)可调整性 系统的故障所在,因此给一个产品的生产和维护带来 了诸多困难。 为了提高诊断效率,我们设计了一套基于虚拟仪 系统配置编程方式,在+5V工作电平下可随时对 器的单片机电路板故障测试诊断系统。 cPLD进行全部或部分地在系统编程,其编程次数多 达1万次,而传统rITItL器件不能再改变其逻辑功能, 本系统接口的硬件部分由仿真cPu、SRAM、 Rs232接口芯片、各种接插件加上核心控制电路构成即使设计有误也无法很快进行调整。 3)可移植性 (见图1)。对于核心控制电路可以考虑两种方案:一 由于开发工具的通用性、设计语言的标准化以及 种是

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