屏蔽壳体上的导线驱动孔径电磁泄漏现象研究 electromagnetic leakage through conductor wire driving airflow aperture in shielding enclosure.pdfVIP

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2017-08-13 发布于上海
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屏蔽壳体上的导线驱动孔径电磁泄漏现象研究 electromagnetic leakage through conductor wire driving airflow aperture in shielding enclosure.pdf

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屏蔽壳体上的导线驱动孔径电磁泄漏现象研究 electromagnetic leakage through conductor wire driving airflow aperture in shielding enclosure

第2l卷第4期电子测量与仪器学报-砚21Ⅳ0．4 oF JOURNALEt置cTRONfc MEAsUREMENT^ND ·4l· 20矾年s旯 lNSTRuME}订屏蔽壳体上的“导线驱动孔径电磁泄漏现象研究孟东林沙斐 (北京交通大学电信学院电磁兼容实验室，100044) 摘要：采用有限元法，分析了在屏蔽壳体上的孔径中穿人导线时对电磁泄漏的影响情况，并给出了实测数据、等效电路模型和物理解释。与一般的孔缝泄磊情况不同，当孔径中央有导线穿过时，电磁能量泄漏现象显著增强。即使穿入的导线总长度相同。导线向屏蔽壳体内部延伸越多则泄漏越严重。若孔径中穿入的导线与壳体相接触则电磁泄祸现象比较复杂。孔径中穿人导线以后，其泄漏效果仿佛是向孔径中加入了一个泄漏驱动源，因此称为“导线驱动孔径”。关键词：孔缝泄漏，屏蔽效能，导体驱动孔径，有限元方法中图分类号：TP蚋．1 文献标识码：A Airnow DriVing’t EIech蜘姐gnetjcLe岛kageth砌l曲“Conduct叫wh ApertIlm Endosun iⅡShidding 一 shaFei MeogDm咄n of E】ech蜘i∞aIld (EMcL丑b．schod hlfmm出蚰EIlgineedl】g，BeiiIlg正aot眦guI-iveIs畸．1(x)044，clIi衄) of stlldiedwilh Ak咖眦：1he胡砘tB tllmllgII。conductordriviIIgaperture”aIe elec咖a印“cene。gyl恤ki“g FiniteEle咖nt m嘲ufement cir{cuitmodel卸d forthe Method(FEM)．Thedata，。qllhalent physical既plaIl“on increase ifa∞n- kakage Pl的vided，t00．Thee耻叼leakage dr8sticdⅡy phenomen帆aTe tIlrough蛐8perture诵u is 0f WiⅡbeworseiftlleconductorwi陀 ductorwiTein鲥edint0tI地center the印erture．What’smore，tlleleakil霉e insemdinto enel08u陀．11le tll。印eItI鹏is既tended皿。球i【曲山eleakage whenthec呷duct叽wirecontac协wi