超声课设工艺卡编制及说明.docVIP

超声课程设计 题 目： 3CrMoVNb楔块锻件检测 学 院： 测试与光电工程学院 专业名称： 测控技术与仪器 班级学号： 学生姓名： 李中浩 指导教师： 李坚 测试与光电工程学院 前言 超声检测(缩写符号为T），属于检测五大常规方法之一。。 课程设计通过给定的工件，要求特无损检测行业标准制定无损检测工艺卡、无损检测工艺规程锻炼学生的动手能力和熟悉检测的操作规程以及检测的撰写非常必要的。 本课程设计， 楔块锻件 产品编号 7 工件 部件名称 —— 厚度 —— 部件编号 —— 规格 ?128×31mm+ ?79×61mm 材料牌号 3CrMoVNb 检测时机 锻后 检查项目 锻件 坡口形式 —— 表面状态 毛面锻后退火 焊接方法 —— 仪器探头参数 仪器型号 PXUT-27 仪器编号 YL0220 探头型号 2.5P20Z 试块种类 CSI-3 检测面 锻件圆周面及端面 扫查方式 锯齿螺旋扫查和水平扫查 耦合剂 30#机油 表面补偿 4db 扫描线调节 深程1：1 检测灵敏度 ?2—150 技术要求 检测标准 JBT4730.4—2005 检测比例 100% 验收标准 JBT4730.4—2005 合格级别 Ⅰ级 检测部位示意图： 纵向缺陷检测：锯齿，前后，左右，转角，环绕。扫查灵敏度应比纵向检测灵敏度再高6db。扫查过程中探头边沿轴线方向移动，边绕圆周方向做曲线运动（即螺旋式的运动） 编制说明:1检测时用的是对比试块法，采用CSⅠ-3的平底孔来进行对比。 2检测时要区分底波和W反射波以及缺陷波。在一次底波之前出现的多半为缺陷波 3探头采用与工件曲面耦合较好的曲面探头，根据需要打磨探头上的楔块。 编制（资格） （Ⅱ级） （资格） （Ⅲ级） 日期 2013年9月16日 2013年9月20日 2013年10月26日 工艺卡编制说明 3.5～4.0%和Cr、Ni、Mn的合金钢大型锻件容易产生白点。白点在钢中总是成群出现。 探伤方法的选择 按探伤时间分类，锻件探伤可分为原材料探伤和制造过程中的探伤，产品检验及在役检验。原材料探伤和制造过程中探伤的目的是及早发现缺陷，以便及时采取措施避免缺陷发展扩大造成报废。产品检验的目的是保证产品质量。在役检验的目的是监督运行后可能产生或发展的缺陷，主要是疲劳裂纹。 轴类锻件的锻造工艺主要以拨长为主，因而大部分缺陷的取向与轴线平行。此类缺陷的探测以纵波直探头从径向探测效果最佳。考虑到缺陪会有其它的分布及取向，因此辅类锻件探伤，还应辅以直探头轴向探测和斜探头周向探测及袖向探测。 直探头径向和轴向探测：如图6.1所示，直探作径向探测时将探头置于轴的外缘，沿外缘作全面扫查，以发现轴类锻件中常见的纵向缺陷。直探头作轴向探测时，探头置于轴的端头，并在轴端作全面扫查，以检出与轴线相垂直的横向缺陷。但当轴的长度太长或轴有多个直径不等的轴段时，会有声束扫查不到的死区，因而此方法有一定的局限性。 斜探头周向及轴向探测：锻件中若在片状轴向及径同缺陷或轴上有几个不同直径的轴段，用直探头径向或轴向探测都难以检出的，则必须使用斜探头在轴的外圆作周向及轴向探测。考虑到缺陷的取向，探测时探头应作正、反两个方向的全面扫查，如图6.2所示。 三、探头的选择 .1探头的频率 选择较高的频率有利于发现更小的缺陷；有利于区分相邻缺陷且缺陷定位精度高；声束指向性好。然而，频率越高，近场区长度越大；衰减也大。所以考虑到所检测工件在检测方向上厚度较大，应选择较低频率，常用0.5～2.5MHz。 3.2 探头的晶片尺寸 尺寸越大，半扩散角越小，波束指向性越好，这对轴线附的缺陷检出十分有利。检测中，检测面积范围大的工件时，为了检测效率常选用大晶片探头。检测较大的工件时，为了有效地发现远距离的缺陷宜小晶片探头。、上述考虑，为了保护被检测工件，选用确定 锻件探伤时，原则上应在探测面上从两个相互垂直的方向进行全面扫查。扫查覆盖面应为探头直径的15%，探头移动速度不大于150mm/s。挡查过程中要注意观察缺陷波的情况和底波的变化情