DSP实验指导书2007.docVIP

第四章 DSP实验内容 根据教学计划，本课程共安排以下六个实验： 实验一 DSP初始化与通用I/O实验 实验二 定时器中断与人机接口实验 实验三 SCI串行通信接口实验 实验四 SPI接口和D/A转换实验 实验五 A/D转换实验 实验六 直流无刷电机控制实验 在用户程序中，需要首先对DSP芯片进行初始化。初始化过程主要执行以下操作：1）配置PLLCR寄存器；2）屏蔽看门狗模块；3）设定外设时钟寄存器，即HISPCP、LOSPCP、PCLKCR；4）InitSysCtrl(void)，该函数完成了对DSP时钟、外设时钟和看门狗模块的初始化。 3.2 通用I/O F281×器件上有高达56个多功能复用引脚，通过GPxMUX寄存器可配置为外设信号或数字I/O引脚。如果配置为数字I/O引脚，可以通过方向寄存器（GPxDIR）控制引脚为输入或输出；通过量化寄存器（GPxQUAL）量化输入信号，以消除信号中的毛刺干扰。 I/O信号 通用I/O 对应外设信号 SW1 GPIOF8 MCLKXA SW2 GPIOF9 MCLKRA LED1 GPIOF11 MFSRA LED2 GPIOF10 MFSXA 在实验中需要设置DSP上的GPIOF8、GPIOF9、GPIOF10、GPIOF11引脚为通用I/O口，并通过拨盘开关设定输入引脚GPIOF8、GPIOF9上的高/低电平，根据输入引脚状态编程（输入/输出间的关系自己定义）设置GPIOF10、GPIOF11口上的电平，使LED亮（低电平）或灭（高电平）。实验系统中使用的输入/输出信号定义见下表。 如设GPIOF8－GPIOF11引脚为I/O口，且GPIOF8、GPIOF9为输入，GPIOF10、GPIOF11为输出。若使GPIOF10、GPIOF11的电平分别跟随GPIOF8、GPIOF9的输入电平变化，可编程如下： 1）通用I/O的初始化 EALLOW; //在写受保护寄存器时应先打开保护 GpioMuxRegs.GPFMUX.all＝0x0000； //设置GPIOF口所有引脚为通用I/O GpioMuxRegs.GPFDIR.all=0x0C00; // GPIOF10、GPIOF11为输出，其余为输入 GpioMuxRegs.GPFQUAL.all=0x0000; // 不使用输入量化功能 EDIS; //写完之后再使能寄存器保护 2）主程序中 GpioDataRegs.GPFDAT.bit.GPIOF10=GpioDataRegs.GPFDAT.bit.GPIOF8; GpioDataRegs.GPFDAT.bit.GPIOF11=GpioDataRegs.GPFDAT.bit.GPIOF9; 3.3 SRAM的时序配置和自检 实验系统中通过外部扩展总线在Zone6扩展了一片外部SRAM芯片CY7C1021V33，容量为64K×16bit，地址范围为0x100000 ～0x10FFFF。SRAM芯片的原理图和真值表如下，实验中采用16位数据方式访问SRAM。 1）SRAM的初始化 void InitXintf(void) { XintfRegs.XINTCNF2.bit.XTIMCLK =0; XintfRegs.XTIMING6.bit.X2TIMING = 0; XintfRegs.XTIMING6.bit.XWRTRAIL = 0; XintfRegs.XTIMING6.bit.XWRACTIVE = 1; XintfRegs.XTIMING6.bit.XWRLEAD = 1; XintfRegs.XTIMING6.bit.XRDTRAIL = 0; XintfRegs.XTIMING6.bit.XRDACTIVE = 2; XintfRegs.XTIMING6.bit.XRDLEAD = 1; } 初始化程序可参见文件DSP28_Xintf.c。 2）SRAM读写与测试 unsigned int * SRAM = (unsigned int *) 0x100000; for(i = 0; i 0xFFFF; i++) { *(SRAM + i) = 0x5555; if(*(SRAM + i) != 0x5555) { while(1); } //如果SRAM测试未通过，则程序停止在该行 } SRAM的测试方法是首先对所有单元写入设定数值，然后读出并进行校验。可以选取有代表性的数据进行测试，如0x0000、0xFFFF、0x5555、0xAAAA等。 四、实验程序结构和实验要求 4.1程序