ARM+Cortex-M3微处理器测试方法研究与实现.pdfVIP

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  • 2017-08-15 发布于天津
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ARM+Cortex-M3微处理器测试方法研究与实现.pdf

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电 子 测 试 ARM Cortex-M3微处理器测试方法研究与实现 蒋常斌 生晓坤 李 杰 宋泽明 (北京自动测试技术研究所,北京 100088) 摘要:作为 32 位 RISC 微处理器主流芯片,ARM 芯片得到长足发展和广泛应用。因而,ARM 芯片的测试需求更加强劲的同时, 测试工作量在加大,测试复杂度也在增加。本文给出了基于ARM Cortex-M3的微处理器测试方法,该方法也可用于类似结构的 微处理器测试。 关键词 :ATE;ARM;Cortex-M3;IC测试;BC3192 中图分类号:TP20,TN30 文献标识码:B 文章编号: Research and Implement of Testing Method for ARM Cortex-M3 Based Microprocessors Jiang Changbin Sheng Xiaokun Li Jie Song Zeming (Beijing Auto-test Technology Institute,Beijing,100088) Abstract : ARM,one of the most popular 32-bit RISC microprocessors,has been developed rapidly and got widely application.Therefore,the requirement for testing ARM is booming,the workload and complexity for testing ARM based processors is increasing as well.This paper presents a test solution for ARM Cortex-M3 based processors,which can also be applied to test microprocessors with the similar structure. Keywords : ATE;ARM;Cortex-M3;IC Test;BC319 0 引言 有统一的测试规范。为了使测试具有通用性,我们有必要对微处 理器的测试建立一个统一的模型,如图 1 所示。芯片测试系统为 随着半导体技术的发展,集成电路制程工艺从深亚微米发 被测微处理器提供电源和时钟,并能够模拟微处理器的仿真通信 展到纳米级,晶体管集成度的大幅提高使得芯片复杂度增加,单 接口来控制微处理器工作,同时配合仿真时序施加激励向量,从 个芯片的功能越来越强。二十世纪 90 年代 ARM 公司成立于英 而达到测试目的。 国剑桥,主要出售芯片设计技术的授权。采用 ARM 技术知识产权 ( IP 核)的微处理器,即 ARM 微处理器,已遍及工业控制、消费 仿真/通信控制 类电子产品、通信系统、网络系统、无线系统等各类产品市场,基 于 ARM 技术的微处理器应用约占据了 32 位 RISC 微处理器七 模式控制 被测MPU 成以上的市场份额。ARM 芯片的广泛应用和发展也给测试带来 芯片测试系统 了挑战,集成电路测试一般采用实际速度下的功能测试,但半导 (ATE) 时钟 体技术的发展使得测试开发工程资源

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