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研究生高等仪器综合告
Department of Chemistry, Tianjin University * 考试时间：第19周（12月30日） 晚上7:00 地点：23-306 《高等仪器分析化学及实验》考试 纳米材料表征的手段： 用XRD表征晶体结构 用SEM表征形貌, 用EDX分析组成(10%误差) 用TEM表征其微结构(是否是单晶,是什么晶形的,生长取向?)及形貌(是否是空心的、核壳结构吗等） 用Scanning TEM(STEM) elemental mapping(适用于原子序数比较大的材料）和Electron energy loss spectroscopy (EELS) elemental mapping来进行成份分析 用IR光谱来表征材料的表面是否存在有机物 用BET来表征材料是比面积和进行孔径分析 对于平整表面上膜粗糙度或厚度的测度可用AFM来测试. XRD UV-vis SEM TEM STEM elemental mapping Line-scan EDX SEM, TEM, and STEM elemental mapping DOI:?10.1002/anie.201105786 ZnS-Amine Sheets SEM ZnS-Amine Sheets TEM EELS elemental mapping SEM TEM STEM elemental mapping TEM and SAED Point-scan EDX Department of Chemistry, Tianjin University
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