统计过程控制(SPC)及反应计划.doc

1. 目的 通过应用控制图方法，对产品制造过程关键工序的主要质量特性/重要特性进行控制，及时发现异常因素并加以消除，确保工序处于稳定的受控的状态。 2. 范围 适用于公司生产过程各关键工序主要质量特性/重要特性的控制。 3. 术语及定义 3.1术语 σ 标准偏差 CL 中心线 LCL 控制下限 LSL 规格下限 UCL 控制上限 USL 规格上限 SPC 统计过程控制 PP 过程实绩 CP 能力指数 CPk 稳定过程的能力指数 3.2定义 计量型数据：可以连续不间断取值的数据。 计数型数据：不可以连续不间断取值的数据。 稳定性：不存在变差的特殊原因处于统计控制的状态。。(X-R，np图），确定取样数量及测试频率； 4.1.3 计算持续的中心线和控制界限，包括对控制界限进行修订； 4.1.4 检查完成的控制图，分析其趋势/异常情形； 4.1.5 工序能力的研究。 4.2现场检验员和操作人员 4.2.1 按规范选取和检测样本并记录检测结果； 4.2.2 所测量取得的数据处于稳定状态下计算该管理项目的CPk值，判断其过程能力是否 达到基本要求。 4.2.3 如CPk达到要求将其要求控制界限的控制图交与生产现场进行过程控制；如CPk达不到要求时，要求调整后再重新抽样作分析用控制图。 4.2.4 知会生产部或开发部失控情况。 4.3品质统计人员 4.3.1 根据给定的上下控制界限的过程用控制图进行打点。一起判断缺陷或采取适当的纠正和预防措施使工序恢复控制，并跟进整改效果。5. 工作程序 5.1均值和极差控制图( X- R图 )(附件二) 5.1.1 控制图的准备 5.1.1.1 建立适用于实施的工作环境 5.1.1.2 定义过程 5.1.1.3 确定作图的特性 A.顾客的要求； B.当前的潜在问题区域； C.特性之间的相互关系； D.定义测量系统； E.使不必要的变差最小化。 C.计算每个子组的均值(X)和极差(R)； X1+X2+…+Xn (X1、X2为子组内每个测量值，n为子组的样本容量, n 通常取n=5) R= Xmax-Xmin D.选择控制图的刻度； E.将均值和极差画在控制图上。 5.1.2.2 计算控制界限 A.计算平均极差（R- ）及过程平均值（X= ）； R1+R2+…+Rk k X-------- 1+X- 2+…+X- k K B.计算控制界限； UCLR = D4R- LCLR = D3R- UCL X = X= + A2 R- LCL X = X= - A2 R- 式中：D4、D3、A2为常数，它们随样 本容量的不同而不同，详情见下表： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 3.27 2.57 2.28 2.11 2.00 1.92 1.86 1.82 1.78 D3 / / / / / 0.08 0.14 0.18 0.22 A2 1.88 1.02 0.73 0.58 0.48 0.42 0.37 0.34 0.31 C.在控制图上作出平均值和极差值控制线。 5.1.2.3 过程控制解释 A.分析极差图上的数据点； --超出控制界限的点； --连续7点位于平均值的一侧； --连续7点上升或下降； --其它明显的非随机图形。 B.识别并标注特殊原因（极差图）； C.重新计算控制界限（极差图）； D.分析均值图上的数据点； --超出控制界限的点 --连续7点位于平均值的一侧 --连续7点上升或下降 --其它明显的非随机图形 E.识别并标注特殊原因（均值图）； F.重新计算控制界限（均值图）。 5.1.2.4过程能力解释 A、计算过程的标准偏差； R d2 式中：R为子组极差的均值（在极差受控时），d2为随样本容量变化的常数。见表： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 1.13 1.69 2.06 2.33 2.53 2.70 2.85 2.97 3.08 B.计算过程能力； Cp=