温度对集合式全膜并联电容器使用寿命影响的研究 research for influence of temperature on the operation life of assembled all-film shunt capacitor.pdfVIP

2006 年 第2 期 温度对集合式全膜并联电容器使用寿命影响的研究 ·35 · 温度对集合式全膜并联电容器使用寿命影响的研究 1 2 黄 玲 ，黄有祥 （1. 赣西供电公司电力勘察设计所，江西 新余338000 ；2. 桂林电力电容器总厂，桂林54 1004 ） 摘 要：通过对集合式全膜并联电容器使用情况的调查研究，认为温度对电容器的使用寿命 有举足轻重的作用，并提出有效的改进措施。良好的设计和工艺制造可提高电容器的可靠性 和使用寿命，满足使用要求。 关键词：集合式并联电容器； 介质温度； 耐久性试验； 使用寿命 中图分类号： TM531. 4 文献标识码：B 文章编号：1002-0349 （2006 ）02-0035-06 Research for Influence of Temperature on the Operation Life of Assembled All-film Shunt Capacitor Huang iing1 ，Huang You-xiang2 （1. Ganxi Eiectric Power Reconnaissance Design Institute of Suppiying Company ，Xinyu Jiangxi 338000 ； 2 . Guiiin Power Capacitor Generai Works ，Guiiin Guangxi 54 1004 ；China ） Abstract ：Through investigating and studying on the operation of assembied aii-fiim shunt capacitor ， it can be considered that temperature piays a hoiding the baiance roie on operation iife. And effec- tive improvement measures are put forward. Fine design and technoiogicai manufacturing can im- prove reiiabiiity and operation iife to meet operation reguirements. Keywords ：Assembied shunt capacitor ；Temperature of dieiectric ，Endurance test ；Operation iife 1 前 言 联电容器的使用寿命影响较大。 全膜电容器的技术发展是以薄膜和非氯化浸 2 从集合式和构架式的产品运行情况看温度对 渍剂这两者的显著进步为基础的，设计和制造工 电容器寿命的作用 艺的不断改进成熟，使全膜电容器产品在我国逐 产品一经制成投入使用，影响电容器损坏的 步得到广泛的应用，并于上世纪九十年代中期基 主要因素是工作场强和温度。长期工作场强和工 本取代膜纸复合电容器。集合式全膜并联电容器 作温度应根据电容器的寿命决定。最小寿命是一 由于其特有的优点，在我国的应用也有十几年的 段经过它以后电容器便开始或多或少普遍损坏， 历史，而且使用量也不小。纸膜并联电容器设计 而在此之前只发生偶然的个别击穿。电容器设计 制造经验丰富，有良好的运行业绩。单元式（也 的主要任务是在材料消耗最少的情况下获得最大 称构架式或台架式）全膜并联电容器的使用情况 的使用寿命和可靠性，寿命和可靠性象材料消耗 基本令人满意，而集合式全膜并联电