mos集成电路的基本制造工艺
CMOS工艺技术是当代VLSI工艺的主流工艺技术,它是在PMOS与NMOS工艺基础上发展起来的。其特点是将NMOS器件与PMOS器件同时制作在同一硅衬底上。 CMOS工艺技术一般可分为三类,即 P阱CMOS工艺 N阱CMOS工艺 双阱CMOS工艺 P阱CMOS工艺 P阱杂质浓度的典型值要比N型衬底中的高5~10倍才能保证器件性能。然而P阱的过度掺杂会对N沟道晶体管产生有害的影响,如提高了背栅偏置的灵敏度,增加了源极和漏极对P阱的电容等。 P阱CMOS工艺 电连接时,P阱接最负电位,N衬底接最正电位,通过反向偏置的PN结实现PMOS器件和NMOS器件之间的相互隔离。P阱CMOS芯片剖面示意图见下图。 N阱CMOS工艺 N阱CMOS正好和P阱CMOS工艺相反,它是在P型衬底上形成N阱。因为N沟道器件是在P型衬底上制成的,这种方法与标准的N沟道MOS(NMOS)的工艺是兼容的。在这种情况下,N阱中和了P型衬底, P沟道晶体管会受到过渡掺杂的影响。 N阱CMOS工艺 早期的CMOS工艺的N阱工艺和P阱工艺两者并存发展。但由于N阱CMOS中NMOS管直接在P型硅衬底上制作,有利于发挥NMOS器件高速的特点,因此成为常用工艺 。 N阱CMOS芯片剖面示意图 N阱CMOS芯片剖面示意图见下图
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