环氧树脂碳钢电极在硫酸溶液中的半导体导电行为.pdfVIP

理化学学报(Wuli Huaxue Xuebao) July A cta Phys. Chim. Sin., 2008, 24(7) ：1277-1282 1277 [Article] 环氧树脂/碳钢电极在硫酸溶液中的半导体导电行为 超1 钟庆东1, 周国治1,2 鲁雄刚1 1 2 ( 上海大学材料科学与工程学院, 上海 200072; 北京科技大学冶金与生态工程学院, 北京 100083) 摘要： 采用电位-电容测试和Mott Schottky 分析技术研究了环氧树脂/碳钢电极在0.5 mol ·L-1 硫酸中腐蚀失 效过程中的半导体导电行为. 环氧树脂在刚刚浸入溶液时(10 min)为绝缘体, 随 浸泡时间延长, 由于离子的腐 蚀, 环氧树脂外层逐渐转变为n 型半导体. 半导体层中的载流子密度随 浸泡时间的延长而增大, 载流子由浸泡 7 h 约1010 cm-3 增大到48 h 的约1012 cm-3 数量级, 浸泡48 h 以内涂层没有完全转变为半导体, 碳钢表面包括环 氧树脂层在浸泡7-48 h 期间为MIS(metal insulator semiconductor)结构. 此MIS 结构空间电荷层在-0.5 - 0.5 V 内处于反型状态, 反型层内的载流子为空穴. 在较低频率下测得空间电荷层电容为反型层电容和耗尽层电容的 串联电容, 随电位升高而减小; 较高频率下测得空间电荷层电容仅为耗尽层电容, 不随极化电位变化. 该MIS 结 构的电位- 电容特性曲线与理想MIS 结构相比发生了阳极漂移. 关键词： 环氧树脂; Mott Schottky 分析; 腐蚀; 半导体行为; MIS 结构; 反型态 中图分类号： O649 Semiconducting Behavior of Epoxy Resin/Carbon Steel in Sulfuric Acid Solution WANG Chao1 ZHONG Qing Dong1, CHOU Kuo Chih1,2 LU Xiong Gang1 1 ( School of Material Science and Engineering, Shanghai University, Shanghai 200072, P. R. China; 2School of Metallurgical and Ecological Engineering, University of Science and Technology Beiji ng, Beijing 100083, P. R. China) Abstract ： Semiconductor behavior of epoxy resin coated on carbon steel immersed in 0.5 mol ·L -1 sulfuric acid aqueous solution during its degradation was investigated. Potential (U)-capacita