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电阻法测试作业指导书 电阻法测试作业指导书 * 电阻法测试作业指导书 * 电容法作业指导书 南京协力电子科技集团 2010-12-09 * 电阻法测试作业指导书 * 序 开短路测试：电路板在制作过程中，会由于工序或人为的原因造成应该导通的线路断路、应该绝缘的 网络短路。开短路测试的目的就是找出此类不良，防止不良流入电路板制作的下一个工序。 测试方法有电阻法、电容法、吸盘电容法、纯电容等，如图： 低阻测试：因为制程异常的原因，在PCB中形成的孔内空洞、铜薄，HDI板经过镭射钻孔后惨胶导致的导通不良等，用普通的开短路测试无法检测出。低阻测试很好的解决了此类问题。 A B C D E 正常 A B C D E C网络开路 （不良） A B C D E D、E网络短路 （不良） * 电阻法测试作业指导书 * 目录 电容法测试原理 适用范围 测试参数设定 测试注意事项 普通电容调试 * 纯电容测试作业指导书 * 电容法测试原理 平板电容器 　　平板电容器由两个彼此靠得很近的平行极板（设为A和B）所组成，两极板的面积均为S，设两极板分别带有+Q，-Q的电荷，于是每块极板的电荷密度为σ=Q/S, ,我们略去极板的边缘效应，把两极板间的电场看成是均匀电场，由高斯定理可得两板间场强为E=σ/ε。=Q/Sε。 　　再由U=∫AB E dl =Ed=Qd/Sε。再根据C=Q/U 　　得出C=ε。S/d既平板电容公式也就是C=S/4πkd 　　注：ε。=1/4πk 是真空电容率 　　平板电容器的电容与极板的面积S成正比，与极板间的距离d成反比，电容C的大小与电容是否带电无关，只与电容器本身的结构形状有关。 * 纯电容测试作业指导书 * 电容法测试原理 原理：C = S / 4πkd S VCC/GND ε d B A + + + + + + + + + σ σ ε Net1 S1 Net5 S5 Net2 S2 Net3 S3 Net4 S4 基准网络 Comp Side d Net6 S6 Net8 S8 Net9 S9 Ne7 S7 Net10 S10 Sold Side ε ε * 纯电容测试作业指导书 * 电容法测试原理 首片截电容 A之電容值：150 μF B之電容值：147μF C之電容值：152μF D之電容值：148μF E之電容值：108μF F之電容值：108μF A B C D E F 截电容 开短路OK 标准电容值 后续板测试 A：147μF B：148μF C：150μF D：145μF E：3μF F：101μF A B C D E F OK板 A：151μF B： 15μF C：154μF D： 148μF E：105μF F：104μF A B C D E F 后续板测试 开短路复测电容 值异常的网络。 开路测试E-F OK 绝缘测试E-C OK 测试结果OK NG板 开路测试A-B NG 绝缘测试E-C OK 测试结果NG * 电阻法测试作业指导书 * 适用范围 电容法适用于有基准网络的多层电路板。（无基准网络的多层板用电阻法；一、两层板用纯电容） 四层板 显示有基准网络 显示有基准网络 * 电阻法测试作业指导书 * 测试参数设定 1.电容法测试必须打开导通、绝缘项。 2.使用电容法测试时，开路测试、绝缘测试均需勾选使用相位差测试，需勾选相位差 复测。 3.根据客户要求设定开路阻值、绝缘阻值和测试电压。（电容异常再用开短路测试异常网络） * 电阻法测试作业指导书 * 测试注意事项 2.对位一定要注意不能对错。电容法后续片测试是首先测量电容值，如果对位错了，很有可能测试针扎到板外或孔内导致针断、孔划伤。 1.电容法测试由于不需要使用吸盘补偿，故测量值应该是黑色。 黄色代表已使用补偿文件.tbl * 电阻法测试作业指导书 * 测试注意事项 3.没有基准网络的测试板使用电容法测试时，会出现右图一的提示，请点击“否”退出。 4.电容值出现较大异常时，会出现右图二的提示。电容值有较多异常时，机台测试的连续性不好。 a.检查是否有扎偏现象，并根据扎偏程度，判断是对位对错还是针偏，若是对位对错需重新对位，若是针偏需做校正。 b.检查板子是否氧化。 c.检查板子表面，看是否有来料打报、大范围断线等明显异常。 d.根据电容法测试原理，电容值存在异常时，会使用电阻法对问题点进行复测，故也可点“继续”继续进行测试。 e.不可点击“下一个”跳过该PCS不测，防止人员错误理解OK/NG列印纸条导致漏测。 图一 图二 * 电阻法测试作业指导书 * 普通电容调试 粗调 命令 对应各调节档位 扎针 范