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afm扫描参数对表面粗糙度测量的影响分析 study on the scanning parameters affecting surface roughness measurements by afm
第26卷第1期 电子显微学报 Vol一26.No.1
2007年2月 ofCmmseEl∞t∞n 2007.02
Jour腑l Micr惦∞pysocie锣
文章编号:1000.6281(2007)01.0032.04
AFM扫描参数对表面粗糙度测量的影响分析
李家文,陈宇航,黄文浩
(中国科学技术大学精密机械与精密仪器系,安徽合肥230027)
摘 要:原子力显微镜(AFM)是纳米科技研究中一个重要工具。影响AFM测量图像质量的因素很多,本文从AFM
扫描参数选择的角度,研究扫描参数对样品表面均方根粗糙度的影响。实验和理论分析表明,扫描速度、反馈控制
参数中的比例常数P和积分常数,的选择均对样品的表面粗糙度测量及评定产生影响。
关键词:原子力显微镜;扫描参数;表面粗糙度
中图分类号:TH742.9文献标识码:A
原子力显微镜(AFM)因具有纳米甚至原子量级20℃一25℃,空气环境相对湿度为20%~30%。
的超高分辨率和柔性的测量环境,已成为纳米科技 AFM在接触模式下测量,主要有四个参数可供
研究中一个重要工具,在表面科学、纳米计量和生物 调整,即参考电压(set
科学等领域得到广泛应用,充分理解影响AFM测量 常数(P)和积分常数(,)。
性能的因素对获得样品的真实数据非常重要¨。。 为了解某一扫描参数对扫描图像的影响,保持
其它参数不变,只改变此参数得到样品同一区域的
影响AFM测量性能的因素很多,主要有:(1)针
尖的几何参数。当针尖在样品表面扫描时,由于针 系列扫描图像,对图像进行分析,得到Rq与此扫描
尖尺寸对样品表面的耦合作用,扫描得出的图像有 参数之间的关系。
畸变。为减少针尖半径对扫描图像的影响,必须对 由于温度等因素影响,在做一系列实验前,首先
图像进行重建心3。(2)针尖和样品的机械性能。由要考虑样品漂移对尺q的影响。图1是在setpoint
于扫描时针尖施加作用力到样品表面,使样品表面 =0.1
产生变形,从而影响图像¨o。(3)压电陶瓷的非线 区域上连续扫描得到11幅图像,由此得到图像Rq
与时间关系。由图可见,在整个测量过程中,尺q的
性、迟滞、蠕变和交叉耦合等,需对扫描驱动器进行
相对偏差小于3%,说明在本实验条件下,图像间漂
标定,进行微位移补偿Ho。(4)图像的漂移,可通过
移对粗糙度评价的影响非常小。在以下的实验中,
振动的隔离、环境温度的控制,采用自相关方法分析
图像漂移的因素可以不加考虑。
连续扫描的图像来确定漂移方向和速率,通过反馈
200
控制则能减小漂移的影响¨’61。 180
160
为得到比较理想的图像,AFM扫描时缺省设置
140
了许多控制参数。这些参数对扫描图像究竟有何影 120
l 1∞
响,很少有人去研究。本文主要研究图像扫描的几 量80
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