ccd组件参数综合测试系统应用研究 application and research on the ccd components parameter testing system.pdfVIP

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2017-08-21 发布于上海
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ccd组件参数综合测试系统应用研究 application and research on the ccd components parameter testing system.pdf

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ccd组件参数综合测试系统应用研究 application and research on the ccd components parameter testing system

第25卷第6期光电技术臆用 V01．25．No．6 2(J10印12JJ FL卜’(’J’R()一()17I’I【’，I’}c(’IIN()I』X；Y人PII．I(、ATI()NI)ecember．2(Jl() ·光电系统与设计· CCD组件参数综合测试系统应用研究赵亮，刘海欧 (东JtJtir-技术研究所．上[’j：锦州12I(R)O) 摘要：【、【’I)fll件参数综合测试系统配备rl】(’II{1i速数’≯l冬l像采集K获取测试数据．硅爪测试l冬j像．分析r务参数的综合测试力‘法‘4JJ；(理。优化的结构设汁保征r··台仪器就能够埘帧频、饱币1I输ff{幅fff、均办根噪声等多种性能参fI}测试．和lJtl统计7Z的h’法埘多次洲试结粜进行r误篪分析．试验表I¨j，测试系统lt-4i测试过张!fI动快速及测试数执iill!确稳定的优点．关键词：(’(’I)}Itft；测试：参数中图分类号：TN206 文献标识码：A 文章编号：1673—1255(2010)06—0(05—03 andResearchontheCCD Parameter Application ComponentsTestingSystem Hai—OU ZHA()Liang．LIU Re,march (NortheastInstitute 121(XY0，China) ofElec+lmmics7khnology。Jin-dum Abstract：The measurementis withthePICtoobtain CCI)eomlmnentparameter systemimplemented high- data cardandtoshowtest methods speeddigitalimageacquisition images．Allparameterscomprehensivetesting and were structureensuresthatadevicewouldtesttheframerate。the principlesanalyzed，theoptimized design valueofthe of胡turated rcx)tn()iscandother error amplitude output。mean．square performanceparameters．The hasbeenmadeonthe te．st show results astatisticaimethod．Teststhatthetest analysis multiple byusing system hasthe test is automaticandthetesteddataisaccurateandstable． followingadvantages：theprocessquick Keywords：CCI)components；testing；parameter (、(、I)宝ttfl：足光电转换、电倚储存、电衙转移和 F1动于I描等功能于一体的光电器件．(、(’I)组件的综